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平场校准光谱仪 Flat Field Aberration Corrected

平场校准光谱仪依赖于独特形状的光栅基板或像差校正槽的设计和间距。如果感兴趣的波长和范围都是已知且固定不变的，那这种结构就非常有用。其探测范围有限，二手频谱分析仪，且仪器结构非常简单。由于对光栅的要求，频谱分析仪，现有的设计很少，而且造价昂贵。它们也是收集低分辨率极端紫外光谱的有效方法。

· VLS（Variable Line Spacing），可变间距光栅

· 获得平场焦平面；

· 良好的像差修正

· 超环面基地VLS光栅-像散修正；

· 光谱范围： 1-20nm 或10-170nm

　调幅系数m a可以从这两个参数算出。当调制正弦波处于它的正、负值即±1时，将出现包络电压Umax=1 ma;和包络电压Umin=1-ma.求得调幅系数ma=（Umax-Umin）/（Umax Umin）（4-2）式，或ma=（1-Umin/Umax）/（1 Umin/Umax）（4-3）式。将（4-1）式展开得U（t）=ACCos（2πfct） maAc/2［cos2π（fc fm）t cos2π（fc-fm）t］（4-4）式。由此可知，在频域上，调幅信号U（t）由幅度为Ac的载波和两个边带组成;一个处在fc fm，另一个处在fc-fm，两者的幅度均为maAc/2，调制频率fm是载波与其中一个边带的频率差（边带相对载波呈对称）。幅度差对应于调幅系数ma.即相对于载波的边带幅度用dB表示为dBc=20log（ma/2），则ma=2amp;TImes;10dBc/20.

常用的频谱分析仪器是扫瞄调谐频谱分析仪，其基本结构类似超外差式接收，工作原理是输入信号经衰减器直接外加到混波器，可调变的本地振荡器经与CRT 同步的扫瞄产生器产生随时间作线性变化的振荡频率，噪声频谱分析仪，经混波器与输入信号混波降频后的中频信号(IF)再放大、滤波与检波传送到CRT 的垂直方向板，因此在CRT 的纵轴显示信号振幅与频率的对应关系，信号流程架构。频谱分析仪架构犹如时域用途的示波器.

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