探伤仪常用X射线探伤仪和同位素发射的γ射线,分别称为X射线探伤和γ射线探伤。当这些射线穿过一种物质时,该物质的密度越大,射线的强度越弱,也就是说,能穿透该物质的射线的强度越小。这时,如果用摄影胶片来接收,胶片的感光量就会小;如果用仪器接收,得到的信号会很弱。因此当用射线照射被探伤仪损伤的零件时,如果零件中存在气孔、夹渣等缺点,则射线通过缺点路径透射的材料密度比没有缺点的材料密度小得多,其强度减弱较小,即透射强度较大,如果零件被负片接收,则感光度较大,从而可以从负片上反射出垂直于射线方向的缺点的平面投影。如果使用其他接收设备,也可以使用仪器来反射垂直于射线方向的缺点的平面投影和射线透射量。
如果超声频率高,传播线性强,在固体中容易传播,遇到两种不同介质形成的界面容易反射,可以用于探伤。探头可以向工件发射信号,并能接收从界面反射的超声波,同时将其转换成其他信号,再传送到仪器进行处理。根据超声波在介质中的传播速度和传播时间,可以知道缺点的位置。
人们的耳朵能直接接收到的声波的频率范围通常是20Hz到20kHz,即音(声)频。频率低于20 Hz的称为次声波,高于20 kHz的称为超声波。工业上常用数兆赫兹超声波来探伤。超声波频率高,则传播的直线性强,又易于在固体中传播,并且遇到两种不同介质形成的界面时易于反射,这样就可以用它来探伤。
通常用超声波探头与待探工件表面良好的接触,探头则可有效地向工件发射超声波,并能接收(缺陷)界面反射来的超声波,同时转换成电信号,再传输给仪器进行处理。根据超声波在介质中传播的速度(常称声速)和传播的时间,就可知道缺陷的位置。当缺陷越大,反射面则越大,其反射的能量也就越大,故可根据反射能量的大小来查知各缺陷(当量)的大小。
常用的探伤波形有纵波、横波、表面波等,前i二者适用于探测内部缺陷,后者适宜于探测表面缺陷,但对表面的条件要求高。
通常影响涡流探伤仪结果的因素很多,材质变化、工件和检测线圈的尺寸、缺陷的形状及所处位置、探伤条件等等,都影响着对探伤结果的正确评价。在铜及铜合金管的涡流探伤中,大多以穿过式线圈方法为主,现就各种影响因素简述如下:
①缺陷:包括缺陷的深度、长度和宽度、缺陷所处的位置(内表面、外表面)、缺陷的种类(孔、槽)等。
②材质:铜及铜合金管的材质对涡流探伤的影响主要体现在电导率方面,同一合金成分的材质中,偏析、残留应力等都会引起电导率的差异。
③管的尺寸和填充系数:管径变化直接影响填充率的大小。
④管壁厚度:铜管壁厚变化时引起的噪声信号。
⑤管与检测线圈相对位置:当铜管在穿过式线圈内部通过时难免有振动发生,这种振动会使管子与线圈之间的相对位置发生变化。
⑥速度波动:铜及铜合金管的涡流探伤以每分钟100米或更高的速度进行。当管子运动速度发生变化时也影响着缺陷的指示。举例来说,传送速度在120m/min的情况下,速度的波动应不大于±10%。
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