初次使用探伤仪的用户可能对仪器的直探头和斜探头的设置和选择不太了解，这里简单给用户介绍一下探头的设置区别：　　一、直探头：

　　1. 仪器设置:(1) 根本主菜单 ① 局限:依据工件的厚度确定 ② ②声速为5920米/秒(2) 斜探头主菜单 ①探头角度为"0"

　　2. 仪器校准(1) 将探头巧合到CSK-ⅢA试块上,调理探头零点,使一次底波和二次底波辨别对应相对程度刻度,此时探头零点显示值即为该值探头零点(假如不校准,普通设为0.8-09)

　　3.测量 ①局限:当厚度较小时,探伤仪普通局限为厚度的五倍;当厚度较大时局限为厚度的2倍 ②假如资料厚度较大时，超声波探头,首要看始波与一次回波之间有没有超越规范的波或一次回波下降水平. ③假如资料厚度较小时,首要看一次回波与二次回波之间有没有超越规范的波或一次回波下降水平.有时需求看一次回波后面有无缺陷波。

　　二、斜探头：

　　1. 仪器设置(1) 根本主菜单 ① 局限:100

　　2. 仪器校准 ① 将探头巧合到CSK-Ⅰ试块响应地位,调理探头零点,探伤仪使100圆弧和50圆弧反射波辨别对应响应的程度刻度,此时的探头零点显示值即为该斜探头零点,还读出此时探头的前沿，超声波测厚仪,记载并输入仪器 ② 将探头巧合到K值校准地位,找到*高波,如斯时探头前沿对应的刻度值与K 值吻合,则K值校准终了,如误差大于0.1,则该探头不再运用。

人们的耳朵能直接接收到的声波的频率范围通常是20Hz到20kHz，即音（声）频。频率低于20 Hz的称为次声波，高于20 kHz的称为超声波。工业上常用数兆赫兹超声波来探伤。超声波频率高，则传播的直线性强，又易于在固体中传播，并且遇到两种不同介质形成的界面时易于反射，这样就可以用它来探伤。

通常用超声波探头与待探工件表面良好的接触，探头则可有效地向工件发射超声波，并能接收（缺陷）界面反射来的超声波，同时转换成电信号，再传输给仪器进行处理。根据超声波在介质中传播的速度（常称声速）和传播的时间，就可知道缺陷的位置。当缺陷越大，反射面则越大，其反射的能量也就越大，故可根据反射能量的大小来查知各缺陷（当量）的大小。

常用的探伤波形有纵波、横波、表面波等，前i二者适用于探测内部缺陷，后者适宜于探测表面缺陷，但对表面的条件要求高。

对于一物体，其内部是否存在气孔、夹杂、疏松、裂纹、偏析、未焊透和熔合不足等缺陷是我们用肉眼无法观察到的，这时探伤仪便发挥其功能，帮助我们检测缺陷。那么超声波探伤仪和X射线探伤仪的区别是什么？

超声波探伤仪是一种利用超声波来探测物体内部有无缺陷的仪器，可检测缺陷、***缺陷、评估缺陷和诊断缺陷等多种功能。

X射线探伤仪能穿透一般可见光不能透过的物质。其穿透能力的强弱与X射线的波长以及被穿透物质的密度与厚度有关。X射线波长愈短，穿透力就愈大；密度越低，厚度愈薄，则X射线愈易穿透。

超声波探伤仪周期短、成本低、对***没有伤害，超声波探伤适用于厚度较大的零件检验。X射线探伤仪成像直观，影像可以长期保存，探伤灵敏度高，对体积状缺陷敏感，缺陷影像的平面分布真实、尺寸测量准确，对被检测物表面没有特别要求，材料晶粒度对检测结果影响不大，可适用于各种材料内部检测。

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探伤仪检测通常是对被测物体（比如工业材料、***）发射超声，然后利用其反射、***效应、透射等来获取被测物体内部的信息并经过处理形成图像。探伤仪其中***效应法是利用超声在遇到运动的物体时发生的***频移效应来得出该物体的运动方向和速度等特性；透射法则是通过分析超声穿透过被测物体之后的变化而得出物体的内部特性的，其应用还处于研制阶段。