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在本发明的一些实施例中，所述校准光谱的光谱值k的计算公式为：k=a*k，其中，a为所述光谱的全范围光谱值。

在本发明的一些实施例中，所述步骤s1中的采集步骤为：s11、将光源光纤的一端与光源连接，其另一端插入到光纤固定座中；s12、将光谱采集光纤的一端与光纤光谱仪连接，其另一端与所述光源光纤相对设置并固定于光纤固定座中；

s13、开启光源，所述光纤光谱仪得到所述光谱。

在本发明的一些实施例中，所述 步骤s2的采集步骤为：

s21、将光源光纤的一端与光源连接，其另一端以倾斜角α插入到光纤固定座中；

s22、将光谱采集光纤的一端与光纤光谱仪连接，其另一端与所述光源光纤同侧设置并垂直插入到光纤固定座中；

s23、将所述待校准标准白板放置于所述光纤固定座的下方

；s24、开启光源，所述光纤光谱仪得到所述第二光谱；

s25、根据所述步骤s24中所述第二光谱确定所述稳定区间。

在本发明的一些实施例中，所述倾斜角α的取值为45

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由于材料和工艺条件等的差异，标准白板不可能完全相同，因此必须逐块检测才能保证量值的准确可靠。

在本发明的一些实施例中，所述稳定区间的波长范围是500-900nm。

在本发明的一些实施例中，所述步骤s12中，所述光谱采集光纤和所述光源光纤位于同一光纤通孔中，该光纤通孔位于所述光纤固定座中。

在本发明的一些实施例中，所述光纤光谱仪与控制处理模块接，所述控制处理模块用于计算所述校准系数k和所述光谱值k。

本发明的技术方案相对现有技术具有如下技术效果：

本发明通过增加并计算校准系数k的步骤，对标准白板的误差较大的波段进行校正，其稳定性重复性得到保证，特别是短波范围保持稳定。

实现了标准白板在使用过程中不受现有标准白板反射率差、不同标准白板提供的标准不一致等的干扰，在全波长波段保持稳定，在分析漫反射光谱等指标方面有实用意义。

漫反射特点

当光照射到疏松的固态样品的表面时，除有一部分被样品表面立即反射出来(称为镜反射光）之外，其余的入射光在样品表面产生漫射，或在样品微粒之间辗转反射逐渐衰减，或为穿入内层后再折回的散射。

漫反射谱有两种表示方式，一种用漫反射率(漫反射光与入射光强度之比)来表示，另一种用Kubelka-Munk函数f(Ro)来表示。

1、漫反射技术适用于难用压片法测量的样品和需维持表面形貌的固体样品，在高分子材料及其添加剂、煤、矿物、纤维等的IR测量中得到广泛应用。

但漫反射光强度弱，因此需要傅里叶变换红外光谱仪的高光通量和高信噪比结合。

2、由于光线照射到固体样品上时，镜面反射和漫反射是同时存在的，因此增加样品表面粗糙度，能使镜面反射减少，漫反射强度。

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