但是如果让这些探针直接接触到板子上面的电子零件或是其焊脚,很有可能会压毁一些电子零件,反而适得其反,所以聪明的工程师就发明了「测试点」, 在零件的两端额外引出一对圆形的小点,上面没有防焊( mask), 可以让测试用的探针接触到这些小点,而不用直接接触到那些被量测的电子零件。早期在电路板上面还都是传统插件( DIP )的年代,的确会拿零件的焊脚来当作测试点来用,因为传统零件的焊脚够强壮,不怕针扎,可是经常会有探针接触不良的误判情形发生,因为一般的电子零件经过波峰焊( w***e soldering )或是***T吃锡之后,在其焊锡的表面通常都会形成一层锡膏助焊剂的残留薄膜,这层薄膜的阻抗非常高,常常会造成探针的接触不良,所以当时经常可见产线的测试作业员,经常拿着空e气喷拼命的吹,或是拿酒精擦拭这些需要测试的地方。
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