蔡司三坐标测量机

作为一款通用型测量工具，SPECTRUM沿袭了ZEISS成熟的测量设计理念，进行合理的软硬件搭配，造就了产品的质量

重要特征：

1、超硬铝制部件保证了整体桥架结构的长期稳定性

2、采用零膨胀玻璃陶瓷材料光栅尺，大大降低了温度变化对测量结果的不利影响

3、高度集成的动态C99控制柜，保证了测量过程的稳定

4、双操纵杆数字式控制面板，***工学设计，操作简便，内嵌LED显示，信息丰富

蔡司  CONTURA   从容应对各种挑战--无论现在还是未来

ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，在大批量复杂零部件的生产过程中，快速获得清晰的测量结果至关重要。关键时刻，测量结果更须确凿无疑。来自蔡司的工业测量技术保证了高水平的质量控制。 ZEISS CMM CONTURA广泛适用于各类型工件的测量，固定平台桥式机体设计，融合***的DLC钻石涂层材质横梁和Z轴结构，结合机器移动时高稳定设计，兼之高精度扫描测头系统及众多技术优势，确保了系统的精度及动态性能；同时，高刚性结构提高了系统对于环境的抗干扰性能及长久的稳定性。

蔡司 ACCURA --解决方案与您共同成长

1、前瞻性

模块化的设计助力 ZEISS ACCURA 为满足未来的需求做好准备。 随着对设备，传感器和软件的要求而不断发展。由于对接触式，光学传感器以及扫描进行了预布线，使得 ZEISS ACCURA 可即时具有多传感器的能力。

2、重量轻，动态高

ZEISS ACCURA 的桥架由钢和铝制成，虽然纤细但刚性佳。铝制元件具备蔡司的CARAT涂层技术，大大改善了温度稳定性并延长了使用寿命。移动部件的重量减轻，提高了机器的动态刚性。

3、温度范围20度至26度

ZEISS ACCURA 桥架具有性能佳的泡沫结缘技术。外壳具备绝缘特性并具有小厚度。这一特性使得操作者可以在20度至26度之间自由选择测量室温度。

4、精度无处不在

ZEISS ACCURA 在每个尺寸测量中都具有大的测量范围。从而多方面实现测量的精度。

5、VAST n***igator 技术

ZEISS ACCURA 标准配置采用 VAST n***igator 技术，可以更快进行校准，逼近和扫描，并提高了精度。

扫描测头

扫描测头在进行单点触发采点时，其工作方式与触发式测头有很大的区别。触发式测头的采点是在测头触发开始时发生的;而扫描测头则是采用模拟信号转换的方式，其单个采点是在测头触发结束、测针离开物体表面时发生的。这两种不同的采点方式造成的显而易见的区别就是触发测头采点速度显著高于扫描测头。触发测头的采点给人的感觉是“一碰即退”，而扫描测头采点则是测针碰到工件后，会短暂粘滞在工件表面，然后缓慢回退至离开工件表面。