蔡司三坐标测量机

符合***工程学的校正工作

全能的测量范围视图

步入式测量区域使得可直接在工件上进行有效分析

移动数据站适用于在工件上直接编程

优越的扫描性能

蔡司VAST n***igator可快速校准、扫描并提高精度

蔡司VAST performance可提高测量产量

Thermofit XL测针延长杆用于测量非常深的钻孔(1,200mm)

蔡司MMZ M满足苛刻的精度要求适用于复杂工件的桥式北京三坐标测量机

以有利的采购成本进行测星一这是开发蔡司MMZM时的目标。三坐标测量机非常适合检查复杂的工件，特别是那些具有严格公差要求的工件。

蔡司MMZ M特点

机械工程师以及风力涡轮机和齿轮系制造商使用蔡司MMZM三坐标测量机。

高精度的测量

可抵抗恶劣的环境条件，以尽可能地减少对测量室的需求

大轴承间隙和稳定的桥架设计，可实现出色的扫描性能

REACH CFX 3 MMZ测针延长杆用于测量非常深的钻孔(1,200mm)

三坐标测头

光学测头相比接触式测头还有另一方面的优势。接触式测头采点时，测头记录的是测球中心的空间坐标，然后根据测球半径来进行补偿，得出实际点的坐标。但当测量特***置的三维曲线时，如果不按照测点的法线方向去采点，会存在半径补偿余弦误差;而如果按照测点的法线方向去采点，又会产生实际测点位置出现偏差的情况。这种情形在测量透平叶片时尤为常见。

接触式测头采点

非接触式光学测头直接利用光点的反射信号来获取被测点的坐标，不存在半径补偿的环节，因此能够完全余弦误差产生的源头。再者，在测量易变性零件时，虽然测力不大，但零件还是会在力的作用下造成一定变形(例如下图中的薄叶片，测量顶部截面时，叶盆时叶片受到测力影响朝叶背方向弯曲，反之亦然)。虽然弯曲变形量不大，但是考虑到叶片本身极薄，其相对变形量还是非常可观的，会对得出的轮廓度与位置度都造成非常大的影响。