老化测试柜在设计时遵循以下设计规则：

1 实用性、稳定性和***性：

采用***成熟的技术和设备，满足当前的需要，兼顾未来产品的需求，尽可能的采用稳定、实用的组件和材料。

2 安全且可靠：

采用老化过程异常双报警系统（声、光），充分保护产品及周边环境设备的安全。

3 灵活性和可扩展性：

客户所提出的具体要求，设计中必须满足。对于未来产品的需求，必须提供一定空间。所以老化房必须具有良好的灵活性和可扩展性。具有支持多种机型老化，提供技术升级、设备更新的灵活性。

4 标准化：

在老化系统结构、原理设计中，基于所涉及领域的有关标准，包括本体标准，电力电气规格变动奠定坚实基础。

5 工程的可分期性：

在老化房项目设计中，整体的工程和设备都为模块化结构，相当于该工程分期进行，而各期工程可以无缝结合、不造成重复施工和浪费。

室隔离式老化测试房尺寸可以根据客户要求设计，采用滑动门窗产品需要的角度测试区，如电源，国内品牌的插座固定在产品线槽或固定在试验区，方便的位置。特点：可使操作人员无需进入老化室可测试的产品，可以看到产品B/我的现状，坚持试验区一英里；从运营商进入老龄化的房间机身过热，可以节省更多的能源。老化测试房温度控制准确，精度高。由于采用了特有的风道系统设计及电控系统，能保持整个房间温度高度均匀性，大大高于同类产品。房间设定温度范围广，连续可调。在常温+5℃－－60℃（常温+5℃－－85℃）范围内可任意设定。若客户特别要求，可设计更高温度产品。

在半导体业界，LED高温老化器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现故障，老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。

老化箱在温度上的一些指标和范围。

旧标准称均匀度，新标准称梯度。温度稳定后，在任意时间间隔内，工作空间内任意两点的温度平均值之差的值。这个指标比下面的温度偏差指标更可以考核产品的技术，因此好多公司的样本及方案刻意隐藏此项。

一般标准要求指标为≤2℃，但客观地说，纯高温试验箱要求在200℃以上仍保持均匀度≤2℃对用户也是不经济的。

温度稳定后，在任意时间间隔内，工作空间中心温度的平均值和工作空间内其它点的温度平均值之差。虽然新旧标准对此指标的定义和称呼相同，但检测已有所改变，新标准更实际，更苛刻一点，但考核时间短点

一般标准要求指标为±2℃，纯高温试验箱200℃以上可按实际使用温度摄氏度(℃)±2%要求。

台资的指标中没有大陆称呼的温度均匀度和温度偏差，近似的是温度分布均匀度，英文单词也不同，样本指标为±0.5℃、±1℃、±1.5℃等。希望对台标了解的朋友解释一下。