封装测试设备类别和形式根据封装材料分类，可分为金属封装体（约占1%）：外壳由金属构成，保护性好、但成本高，适于特殊用途。在此过程中，必须采用运动控制结合配合机器视觉系统一起相辅相成达成芯片光学质量检测与封装工艺，藉以提高生产效率。探针台和分选机实现的则是机械功能，将被测晶圆/芯片拣选至测试机进行检测。探针台和分选机的主要区别在于，探针台针对的是晶圆级检测，而分选机则是针对封装的芯片级检测。

市场规模据：WIND数据库统计，2019年半导体行业市场规模为4122亿美元，其中集成电路市场规模为3432亿美元，占比为83.25%。我们找到了一个更的解决方案，用户现在使用一台设备同时实现机器视觉与运动控制功能，并且具有高精密仪表量测检测功能。无法将所需要的数据卡片集成，其后果会造成运动偏差造成不良品发生和潜在短路的质量问题无法被察觉。

芯片级封装CSP几年之前封装本体面积与芯片面积之比通常都是几倍到几十倍，但近几年来有些公司在BGA、TSOP的基础上加以改进而使得封装本体面积与芯片面积之比逐步减小到接近1的水平，所以就在原来的封装名称下冠以芯片级封装以用来区别以前的封装。人们对芯片级封装还没有一个统一的定义，有的公司将封装本体面积与芯片面积之比小于2的定为CSP，而有的公司将封装本体面积与芯片面积之比小于1。