IC测试过程IC测试一般它分为两大部分：前道工序和后道工序。前道工序将粗糙的硅矿石转变成高纯度的单晶硅。在Wafer上制造各种IC元件。测试Wafer上的IC芯片。后道工序对Wafer（晶圆）划片（进行切割）对IC芯片进行封装和测试。设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发，在整个设计过程中，需要一直考虑测试相关的问题。

集成电路是信息产业的基础和，集成电路产业是国民经济的关键基础性和战略性行业，在国民经济中占据着十分重要的地位。集成电路还可以按照制作工艺、导电类型、用途、应用领域及外形分为不同的种类。***科技重大专项“极大规模集成电路制造装备及成套工艺”的支持下，封装测试设备也在迅速的国产化。气派科技产品广泛应用于移动电源、开关电源、通讯设备、家用电器、5G、等领域，可见气派科技属于传统封装技术。

PGA(PinGridArrayPackage)：插针网格阵列封装，插装型封装之一，基材多采用多层陶瓷基板。SIL(SingleIn-line)：单列直插式封装，引脚从封装一个侧面引出，排列成一条直线。封装的分类：。SIP(SystemInaPackage)：系统级封装，将多种功能芯片，包括处理器、存储器等功能芯片集成在一个封装内，从而实现一个基本完整的功能。