IC测试过程IC测试一般它分为两大部分：前道工序和后道工序。前道工序将粗糙的硅矿石转变成高纯度的单晶硅。在Wafer上制造各种IC元件。测试Wafer上的IC芯片。后道工序对Wafer（晶圆）划片（进行切割）对IC芯片进行封装和测试。设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发，在整个设计过程中，需要一直考虑测试相关的问题。

其技术可分为传统封装和***封装，气派科技，采用的是传统封装技术。中国企业也全部在高速增长，虽然LED芯片市场份额还不是世界，但是趋势也已经很明显，而且块头目前已经算得上比较大了。***科技重大专项“极大规模集成电路制造装备及成套工艺”的支持下，封装测试设备也在迅速的国产化。在封装领域，我国企业技术水平和世界水平已经不存在代差，体量已经进入世界位，且发展速度显著高于其他竞争对手。

也可称为终段测试FinalTest。在此之前，由于封装成本较高整片晶元还必须经过针测ProbeTest。封装测试市场前景一片大好在收入方面，移动和消费是个大的细分市场，2019年占封装测试市场的85%，2019年至2025年，这一部分的复合年增长率将达到5。5%。不同封装测试类型的复合年增长率收入依次为：2。

在此之前，由于封装成本较高整片晶元还必须经过针测ProbeTest。CSP封装具有以下特点：解决了IC裸芯片不能进行交流参数测试和老化筛选的问题；封装面积缩小到BGA的1/4至1/10；延迟时间缩到极短；CSP封装的内存颗粒不仅可以通过PCB板散热，还可以从背面散热，且散热效率良好。在TSOP封装方式中，内存颗粒是通过芯片引脚焊在PCB板上的，焊点和PCB板的接触面积较小，使得芯片向PCB板传热相对困难。