IC测试过程IC测试一般它分为两大部分：前道工序和后道工序。前道工序将粗糙的硅矿石转变成高纯度的单晶硅。在Wafer上制造各种IC元件。测试Wafer上的IC芯片。后道工序对Wafer（晶圆）划片（进行切割）对IC芯片进行封装和测试。设计公司主要目标是根据市场需求来进行芯片研发，在整个设计过程中，需要一直考虑测试相关的问题。

封装完成后进行成品测试，通常经过入检（Incoming）、测试（Test）和包装（Packing）等工序，后入库出货。典型的封装工艺流程为：划片装片键合塑封去飞边电镀打印切筋和成型外观检查成品测试包装出货。形式半导体器件有许多封装形式，按封装的外形、尺寸、结构分类可分为引脚插入型、表面贴装型和封装三类。

用这种形式封装的芯片，必须采用表面安装设备技术(***T)将芯片边上的引脚与主板焊接起来。PQFP封装适用于***T表面安装技术在PCB上安装布线，适合高频使用，它具有操作方便、可靠性高、芯片面积与封装面积比值较小等优点。带引脚的塑料芯片载体PLCC。它与LCC相似，只是引脚从封装的四个侧面引出，呈丁字形，是塑料制品。

PGA(PinGridArrayPackage)：插针网格阵列封装，插装型封装之一，基材多采用多层陶瓷基板。SIL(SingleIn-line)：单列直插式封装，引脚从封装一个侧面引出，排列成一条直线。封装的分类：。SIP(SystemInaPackage)：系统级封装，将多种功能芯片，包括处理器、存储器等功能芯片集成在一个封装内，从而实现一个基本完整的功能。