在收入方面,移动和消费是个大的细分市场,2019年占封装测试市场的85%,2019年至2025年,这一部分的复合年增长率将达到5.5%。不同封装测试类型的复合年增长率收入依次为:2.5D/3D堆叠IC、嵌入式芯片,Fan-Out:分别为21%、18%和16%。封装测试的原因:随着芯片的复杂度原来越高,芯片内部的模块越来越多,制造工艺也是越来越***,对应的失效模式越来越多,而如何能完整有效地测试整个芯片,在设计过程中需要被考虑的比重越来越多。2019年,集成电路封装市场总值为680亿美元。***封装在整个半导体市场的份额不断增加。根据Yole的说法,到2025年,它将占据市场近50%的份额。
在TSOP封装方式中,内存颗粒是通过芯片引脚焊在PCB板上的,焊点和PCB板的接触面积较小,使得芯片向PCB板传热相对困难。中国***十分关注这一问题,制定了多项有利政策支持封装测试设备的发展。而且TSOP封装方式的内存在超过150MHz后,会有很大的信号干扰和电磁干扰。WLCSP此封装不同于传统的先切割晶圆,再组装测试的做法,而是先在整片晶圆上进行封装和测试,然后再切割。几年之前封装本体面积与芯片面积之比通常都是几倍到几十倍,但近几年来有些公司在BGA、TSOP的基础上加以改进而使得封装本体面积与芯片面积之比逐步减小到接近1的水平,所以就在原来的封装名称下冠以芯片级封装以用来区别以前的封装。
表面贴片封装根据引脚所处的位置可分为:Single-ended(引脚在一面)、Dual(引脚在两边)、Quad(引脚在四边)、Bottom(引脚在下面)、BGA(引脚排成矩阵结构)及其他。半导体生产流程由晶圆制造、晶圆测试、芯片封装和封装后测试组成。然而,这些相互连接的刚性更强,根据施加的应变,可能会更快地失效。也可称为终段测试Final Test.在此之前,由于封装成本较高整片晶元还必须经过针测Probe Test。半导体封装经历了三次重大革新:次是在上世纪80年代从引脚插入式封装到表面贴片封装,它极大地提高了印刷电路板上的组装密度;第二次是在上世纪90年代球型矩阵封装的出现,满足了市场对高引脚的需求,改善了半导体器件的性能;芯片级封装、系统封装等是第三次革新的产物,其目的就是将封装面积减到。
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