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作者:安徽徕森2021/11/8 9:11:54






AOI ***应用行业——FPD 领域

FPD—AOI的主要应用于以下检测:Mura缺陷检测,ColorFilter缺陷检测,色度、厚 膜、光学密度检测,PI检测,LC液晶检测。检测工序遍布LCD、OLED以及TouchPanel 产品等平板显示器件的生产环节,主要利用光学信号对其结构和外观做出检测并辅 助其他功能性检测。主要目的有三:(1)避免不良品流入下道工序;(2)改善制程 工艺和流程;(3)对不良品进行解析,提升良率。

在彩色滤光片的生产工艺环节上,AOI设备主要用于黑框(BM)、RGB彩色膜、铟 锡氧化物薄膜(ITO)、MVA、PS和INS等制程中,目前由田的CF—AOI设备实现了 8.5代线(2200mm*2500mm)的应用;在薄膜晶体管的生产工艺上,AOI设备主要 用于配向膜检测,偏光片贴附检测,点亮检测(点、线、Mura)以及外观检测上。






提良率、增产能——AOI设备必不可少。

对高清、超高清晰度和零缺陷电视机和移动 设备的需求,要求平板显示器制造商开发更复杂的面板设计,并实施更严格的生产过 程控制。液晶显示器和OLED显示器的检测,由于某些导体和绝缘体所使用的透明材 料、多层结构和高密度特性以及潜在缺陷的精细性质,对技术提出了截然不同的挑战。

传统人工肉眼翻查缺陷检测方式主观性大,误检、漏检率高。基于数字图像处理的 AOI检测设备具有精度高、速度快、无接触的优点,能够克服人工检测的弊端,在显 示器缺陷检测行业有良好的应用前景,从前道的ITO玻璃检测、背光模组检测,到Cell 贴合、LCD模组的COG设备、对位贴合、切割机、飞针探测设备等,都离不开AOI相 关设备;同时LCD和OLED的检测、测试和维修过程也必须与LCD设备的高生产速度 相匹配,这一要求使得LECD和OLED制造商在新型显示器需要识别设备,将会 拉动对AOI的需求。LCD和OLED易受各种缺陷的影响,其中许多是由于生产中使用的 沉积、光刻和蚀刻工艺所致。在生产过程中检测和修复这些缺陷使制造商能够改进 对其生产过程的监视,避免成本进一步昂贵的材料并大幅度提高其产量。







 断面x射线、或三维X射线测试系统——克服了传输x射线测试系统的缺点,该系统可以做分层断面检测,相当于工业CT。因为焊点比较暗,焊盘比较亮,用黑/白光计算方法、求黑占白的比例来求暗的面积占整个焊点的百分比,可检测焊锡量过多或过少。AOI通过人工光源LED灯光代替自然光,光学透镜和CCD代替人眼,把从光源反射回来的量与已经编好程的标准进行比较、分析和判断。







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