（ISO7724.1~3-1984、ISO/TR8125-1984和GB/T11186.1~3-1989）膜厚度（现有一个膜厚计）。显微镜测量横断面厚度  采用的方法是将产品截断，用金相显微镜测试，影响的因素有表面粗糙度、横断面的斜度、覆盖层变形和机加工缺陷；（GB/T6462-1986和ISO1463-1983）。分光束显微镜测量法  于银色阳极氧化膜的测量。图1是铝合金阳极复膜后采用偏振光照明观察，调整恰当的起偏镜与检偏镜角度得到的效果。阳极氧化厂，阳极氧化工艺，阳极氧化检测，金属阳极氧化，铝合金阳极氧化

（ISO2128-1976、GB/T8014.3-200X） 质量损失法  适用于膜厚大于10μm（GB/T8014.2-200X、ISO2016-1982）。涡流法（现有的膜厚计即为此种）  采用涡流法有快速、方便、非***性，因此应用很广，原理是采用涡电流，并要求金属非磁性且表面不导电，当侧头与试样接触时，测头产生高频电流磁场。毛坯件的加工部位有毛刺、飞边的都不能直接进行氧化处理，因为氧化膜层较脆，毛刺、飞边有氧化膜之后极易折断脱落，断处的端面露出基体，影响外观质量。

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另外，有一个必须要明确的现象就是，阳极复膜样品，在明场下，没有灰度、色彩效果；感觉就是一个抛光而未侵蚀的样品。目测也没有什么色彩感觉。完全不同于干涉膜成像技术（彩色金相技术中的Tint etching-- also called stain etching or color etching）中的目测色彩变化的效果（比如紫色）。在进一步分析阳极复膜成像原理前有必要特别说明：一定要避免混淆不同光学技术的成像原理。阳极氧化厂，阳极氧化工艺，阳极氧化检测，金属阳极氧化，铝合金阳极氧化