4.时钟树生成(CTS Clock tree synthesis) 。
芯片中的时钟网络要驱动电路中所有的时序单元,所以时钟源端门单元带载很多,其负载很大并且不平衡,数字ic设计工具介绍,需要插入缓冲器减小负载和平衡。时钟网络及其上的缓冲器构成了时钟树。一般要反复几次才可以做出一个比较理想的时钟树。---Clock skew.
5. STA 静态时序分析和后。
时钟树插入后,每个单元的位置都确定下来了,工具可以提出GlobalRoute形式的连线寄生参数,此时对参数的提取就比较准确了。SE把.V和.SDF文件传递给PrimeTime做静态时序分析。确认没有时序违规后,将这来两个文件传递给前端人员做后。对Astro 而言,在detail routing 之后,
用starRC XT 参数提取,生成的E.V和.SDF文件传递给PrimeTime做静态时序分析,那将会更准确。
6. ECO(Engineering Change Order)。
针对静态时序分析和后中出现的问题,对电路和单元布局进行小范围的改动.
7. Filler的插入(pad fliier, cell filler)。
Filler指的是标准单元库和I/O Pad库中定义的与逻辑无关的填充物,用来填充标准单元和标准单元之间,I/O Pad和I/O Pad之间的间隙,它主要是把扩散层连接起来,满足DRC规则和设计需要。
8. 布线(Routing)。
Global route-- Track assign --Detail routing--Routing optimization布线是指在满足工艺规则和布线层数限制、线宽、线间距限制和各线网可靠绝缘的电性能约束的条件下,根据电路的连接关系将各单元和I/OPad用互连线连接起来,数字ic设计公司排名,这些是在时序驱动(Timing driven )的条件下进行的,保证关键时序路径上的连线长度能够。--Timing report clear
集成电路芯片,简称为IC;说白了,便是把一定总数的常见电子元器件,如电阻器、电容器、晶体三极管等,及其这种元器件中间的联线,根据半导体材料加工工艺集成化在一起的具备特殊作用的电源电路。
集成电路芯片早已在各个领域中充分发挥着十分关键的***,是当代信息社会的根基。集成电路芯片的含意,早已远远地超出了其刚问世时的界定范畴,但其关键的一部分,依然沒有更改,数字ic设计具体工作,那便是“集成化”,萝岗区数字ic设计,其所衍化出去的各种各样课程,大多数是紧紧围绕着“集成化哪些”、“怎样集成化”、“如何处理集成化产生的利与弊”这三个难题来进行的。
典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线(Bathtub Curve)来表示。Ⅰ Ⅱ ⅢRegion (I) 被称为早夭期(Infancy period)
这个阶段产品的 failure rate 快速下降,造成失效的原因在于IC设计和生产过程中的缺陷;Region (II) 被称为使用期(Useful life period)在这个阶段产品的failure rate保持稳定,失效的原因往往是随机的,比如温度变化等等;u Region (III) 被称为磨耗期(Wear-Out period)在这个阶段failure rate 会快速升高,失效的原因就是产品的长期使用所造成的老化等。认识了典型IC产品的生命周期,我们就可以看到,Reliability的问题就是要力图将处于早夭期failure的产品去除并估算其良率,预计产品的使用期,并且找到failure的原因,尤其是在IC生产,封装,存储等方面出现的问题所造成的失效原因。下面就是一些 IC 产品可靠性等级测试项目(IC Product Level reliability testitems )
一、使用寿命测试项目(Life test items):EFR, OLT (HTOL), LTOL①EFR:早期失效等级测试( Early fail Rate Test )目的: 评估工艺的稳定性,加速缺陷失效率,去除由于天生原因失效的产品。测试条件: 在特定时间内动态提升温度和电压对产品进行测试失效机制:材料或工艺的缺陷,包括诸如氧化层缺陷,金属刻镀,离子玷污等由于生产造成的失效。
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