直读光谱仪的校准描迹是对光谱仪的光学系统进行的校准。这是校准的首要前提。
在此条件下可进行如下校准:标准化即再校准工作曲线,然后可用到的校准方法有:(1)、修改持久工作曲线法(修改标准化参数);(2)、控样法;(3)、类型标准化法。
透镜污染透镜污染引发的光强值下降。透镜安装在光谱仪的分光室和火花室之间,起隔离分光室和火花室及汇聚谱线的作用。激发一定数量的试样以后,火花室内激发产生的灰烬等污染物及分光室内真空泵长时间运转蒸腾产生的油污分子会污染透镜的两个表面,降低透镜的透光性,引发光强值下降。因此,每隔规定的时间或分析了一定数量的试样后,要将透镜取下,浸泡在无水乙醇或其他清洗液中数十分钟再用干净的绸布擦拭干净后装上。 次数用完API KEY 超过次数限制
直读光谱仪可用于铸造、锻造、机械配件、装备制造、质检、高校教学培训等领域。
在直读光谱仪分析过程中,采用高稳定的激发光源,激发频率在150—500Hz之间变化,分析不同的样品,可选择不同的激发参数,可达到佳的分析效果。
直读光谱仪中有关第三元素影响的问题
谱线干扰:由于试样组分复杂,所选元素的分析线直接受试样中其它组分发射谱线的影响,这种影响又称为光谱干扰。基体。简单的说,样品中除了少量存在的待测物之外,还有大量的其他物质,这就是基体。基体效应。实验证明,当被测元素的浓度一定时,分析元素谱线的绝强度及相对强度值不仅决定于蒸发、激发等摄谱条件,直读光谱仪的使用,而且与试样总组成有关。试样总组成对谱线强度的影响称为第三元素的影响。第三元素是指除了内标和分析元素以外而存在于试样中的元素,这种影响有时称为基体效应。 次数用完API KEY 超过次数限制
国产直读光谱分析仪器1928年以后,直读式光谱仪的使用,由于光谱分析成了工业的分析方法,光谱仪器得到迅速的发展,一方面改善激发光源的稳定性,另一方面提高光谱仪器本身性能。六十年代光电直读光谱仪,随着计算机技术的发展开始迅速发展,1964年ARL公司展示一套数字计算和控制读出系统。由于计算机技术的发展,电子技术的发展,电子计算机的小型化及微处理机的出现和普及,光谱仪的使用,成本降低等原因、于上世纪的七十年代光谱仪器几乎100%地采用计算机控制,这不仅提高了分析精度和速度,而且对分析结果的数据处理和分析过程实现自动化控制。 次数用完API KEY 超过次数限制
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