大塚电子（苏州）有限公司主要销售用于光学特性评价?检查的装置。其装置用于在LED、 OLED、汽车前灯等的光源?照明产业以及液晶显示器、有机EL显示器等平板显示产业以及其相 关材料的光学特性评价?检查。欢迎新老客户来电咨询！

产品特点非接触式、不***样品的光干涉式膜厚计。、高再现性量测紫外到近红外波长反射率光谱，FE3000膜厚仪，分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率、k:消光系数)。宽阔的波长量测范围。(190nm~1100nm)薄膜到厚膜的膜厚量测范围。(1nm~250μm)对应显微镜下的微距量测口径。

半积分球。大塚电子独有专利，提高积分球测试效率一倍，更易于样品的装夹，切换迅速（世界范围内独i家）；(2)多次激发修正。大塚电子独有专利，i大程度降低样品所反射的激发光再次照射样品带来的多次激发， 对粉末和固体测试精度提高明显（世界范围内独i家）；(3)光谱可扩展， 光谱探测范围可扩展至1700nm甚至2550nm.(4) 可以升级配备控温系统（-30℃-300℃）

不锈钢样品池及石英材质光学窗口，光学透过率大于98%，全波段无荧光反应，用于固体、粉末及薄膜样品测试（数量5个），尺寸直径≤10mm

本仪器是一套使用积分半球对薄膜状样品或粉状物样品进行效率测试的系统。

原理为：利用单色仪和氙灯的组合可实现任意波段的激发光并以此来照射荧光材料样品，FE，再以光谱仪对产生的发光光谱进行测试并对其荧光材料特性做出评价。本系统采用了具有高灵敏度、高稳定的本公司的光谱仪对光谱进行测量。

光纤在极度弯曲后会有可能发生断裂。故，FE膜厚仪，请将弯曲半径保持在10cm以上(即:不要过于折叠光纤，以免损坏).将样品放入样品放置cell内，然后放入积分半球内。

FE膜厚仪-FE-苏州大塚电子(查看)由大塚电子(苏州）有限公司提供。FE膜厚仪-FE-苏州大塚电子(查看)是大塚电子(苏州）有限公司升级推出的，以上图片和信息仅供参考，如了解详情,请您拨打本页面或图片上的联系电话，业务联系人：曹先生。