镀层膜厚仪-一六仪器(在线咨询)-泰州测厚仪
作者:一六仪器2020/10/20 2:52:28

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。

X射线荧光光谱仪是基于X射线荧光光谱法而进行分析的一种常见分析仪器。通常认为X区域0.01-10nm之间的一段电磁波谱,短波边以伽马射线为界,长波边与真空紫外线区域的实际界线。

X射线荧光光谱仪特点

1、一种真正意义上 的无损分析,在分过程中不会改变样品的化学形态。具有不污染、节能低耗等优点。

2、分析速度快,无须进行样品预处理,升值无须样品的制备,荧光测厚仪,X射线荧光光谱分析可以筛选大量的样品。一般情况下检测在3分钟以下。

3、自动化程度高。

4、可以同时测定样品中的多种元素。

5、随着分析技术的发展,仪器可以满足很多行业的需求。如:地质矿产,冶金、化工、材料、石油勘探、考古、合金、土壤、镀层等诸多行业。

6、样品的形态广。

7、X射线荧光光谱仪分为波长色散谱仪和能量色散谱仪可以满足各行个元素的需求。

8、X射线荧光光谱仪中的能量色散仪是低分辨率光谱仪已是在线分析的选择仪器之一。








江苏一六仪器 X射线荧光镀层测厚仪

电镀液测量杯整套含两个测量杯,可用于多品牌X-RAY测厚仪上使用,高纯元素本底提高测量精度和检出限。电镀液测试样品杯,严格控制了容量和溢出物的处理,用来测试溶液中金属离子的浓度;使用方便简捷,无污染。

测试膜,又名X射线荧光光谱仪样品薄膜,迈拉膜,光谱测厚仪,麦拉膜,XRF测试薄膜,XRF样品膜,镀层膜厚仪,样品薄膜,EDX薄膜,EDX样品薄膜,ROHS检测膜,光谱仪样品薄膜;是应用于X荧光光谱仪的用于保留液体、粉末、泥浆或固体样本在样本杯内的物质。专用样品薄膜是使用方便简捷,泰州测厚仪,无污染的测试用样品薄膜,广泛应用于Elite、fischer、牛津、博曼、先锋、日立、天瑞等各种品牌的EDX/XRF光谱仪。



江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们***的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名***通力合作,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪

一六仪器 X荧光光谱测厚仪

镀层分析X射线荧光光谱特点

1.镀层分析快速、无损,对样品无需任何处理。一般测试一个点只需要数10S-1分钟,分析精度高。

2.可测试超薄的镀层。

3.可测试多镀层,分析精度远远高于其他测量方法。

4.可分析合金镀层厚度。如果合金镀层成分稳定,选择合适的对比分析样品,就可以准确的分析出合金镀层的厚度。

5.对于样品可进行连续多点测量,适合分析镀层的厚度分布情况,并可以对样品的复杂面进行测量。

6.对分析的多镀层每层之间的材料,要求有明显的区别

7.不可以测试超厚样品,普通金属镀层总厚度一般不超过40微米。

8.可以对样品进行测试

9.属于对比分析仪器,测试不同的镀层样品需要不同发镀层标样


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