Testram半导体测试机V777产品介绍：◆TestRate10MHz◆128I/OPin◆4個同時測定◆省空间、低耗电◆主要構成***器◆TESTER本体外形寸法：532W×692H×750D重量：約100kg◆测试标题外形寸法：430W×271H×511D重量：約50kg◆TESTERCONTROLLER本体：PC-AT互換***PROCESSOR：x86系储存容量：512MB硬盘容量：CDRIVE(驱动盘)30GBDDRIVE40GB以上（内蔵）INTERFACE：Ethernet、GPIB（OPTION）操作系统：WindowsXP◆系统操作◆PINELECTRONICS***大128I/OpinDRIVER输出***圧範围-2V～+11V输出***圧分解能2.5mV水准选择4組Timing分解能1nS波道間SKEW&plu***n;1nS波形操纵FIXHi,FIXLo,NRZ,INVNRZ,RZ,INVRZ,R1,EXOR,INVEXORComparator输入***圧範围&plu***n;45V/&plu***n;10V比較***圧分解能3.0mV（20mV/45VRange）判定水准2組（VOH,VOL）Timing分解能1nSPIN間SKEW&plu***n;10nSDynamicLoad（optional）Load***流設定範围&plu***n;1mA～&plu***n;25mALoad***流設定分解能12.2uA***圧設定範围-2V～+8V***圧設定分解能2.4mVLoad***流选择2組水准选择2組◆Timing发生器周期設定100nS～1.3mS設定分解能1nS周期設定数8組◆Pattern发生器Memory容量1M（***大4M）◆ＤＰＳ（Device用***源）4***源/Unit,２Unit实装可能VFIMMode印加***圧3Range&plu***n;4v/8V/40V分解能12Bit測定***流6Range4uA/40uA/400uA/4mA/40mA/400mA***流Clamp根据各***流測定Range的値+10%而RangeClamp◆ＰＭＵ（DC測定Unit）4***源/Unit***大４Unit实装可能VFIMMode印加***圧3Range&plu***n;4V/8V/40V分解能16Bit測定***流6Range4uA/40uA/400uA/4mA/40mA/400mA分解能16Bit***流Clamp根据各***流測定Range的値+10%而RangeClampIFVMMode印加***流6Range4uA/40uA/400uA/4mA/40mA/400mA分解能16Bit測定***圧3Range&plu***n;4V/8V/40V分解能16BitVMMode（***圧測定）输入电阻100MΩ以上測定Range3Range&plu***n;4V/8V/40V分解能16Bit◆用户用***源+5V,+12V,+15V,+13V,-15V,-2V（各***源共***大1A供給）◆RELAYCONTROL信号64Bit（16Bit/PinextensionBoard）可容***圧範围40V***流50mA输出渡过Opencollector(没有Collectorclampdiode)◆Handle/ProberInterfaceInterfaceBoard之外通过GPIBInterface?Board（Option）操作也是可能的)