Testram RFID综合测试仪T8200UD
TestramRFID综合测试仪T8200UDRFID综合测试仪T8200UD是针对近场非接触式IC卡、天线(基于ISO/IEC14443TypeA,TypeB,ISO/IEC18092PassiveMode即TypeC***的Felica卡),以及非接触IC卡(ISO/15693Tag-It,I-CODESLI),IC标签的共振频率,Q值和插入损耗(insertionloss)进行检测,根据设定值判定待测物PASS/FAIL的设备。检测频率:500KHz~300MHz测定项目:不同的制品,通过制作对应的检测天线,可以检查各式制品○共振频率○非接触式IC卡○衰减量○NFC搭载的制品○Q值○着装芯片之前的RFID天线通过设定各个待测项目的设定值进行检测,并可以通过保存测量特性波形及测定值,管理RFID产品的品质。)
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