BA-100-MVP_博曼测厚仪
详细介绍美国博曼Bowman测厚仪BA-100-MVP,是原美国CMI900升级产品,是一款全新的智能化机型,可为您提供高精度、快速简便的测量和分析。仪器搭载高分辨率的固态Si-PIN探测器,良好的元素峰位分辨无需二次滤波器,且峰位长时间保持稳定,无需频繁地进行再校准。美国博曼Bowman测厚仪BA-100-MVP为紧凑式几何结构,激发源到样品的距离只有其它同类机型的三分之一,有效提高测量精度和效率。可提供用户三种不同的样品平台选择:标准固定台;马达驱动/可编程XY平台;加宽的的可编程XY平台。美国博曼BowmanBA-100-MVP可应用于汽车行业、线路板行业(特别是测沉金与钯金比同类机型***),连接器行业,螺丝紧固件,五金卫浴行业,珠宝,通讯行业等。美国博曼Bowman测厚仪BA-100-MVP仪器参数:X射线管:50W(50KV,1MA)微聚焦钨钯射线管,探测器:固态Si-PIN探测器;X射线光学机构:准直器机构;焦距:可变焦功能;Z轴控制及聚焦方式:自动Z轴控制,自动激光聚焦;测量光点:圆形:0.1mm;0.2mm;0.3mm;0.5mm;1.5mm;矩形:0.05mm*0.25mm;0.025mm*0.25mm;XY平台:固定平台(开槽式)马达控制/可编程XY平台;平台尺寸:350mm×390MM;行程:125mm×150mm;延伸可编程XY平台:平台尺寸:715mm×600mm;行程:254mm×254mm;博曼测厚仪http:///SonList-mlhttp:///st20267/erlist_ml)
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