EDX4500HX荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。该仪器的主要特征是利用智能真空系统，可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果，利用XRF技术可对高含量的Cr、Ni、Mo等***关注的元素进行***分析，在冶炼过程控制中起到了测试时间短，大大提高了检测效率和工作效率的作用。我司提供***的天瑞EDX4500H维修技术和设备升级方案。详细介绍性能特点天瑞EDX4500H维修***超薄窗***管，指标达到***水平***新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到100000CPS，精度更高。在合金检测中效果更好SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性高信噪比的电子线路单元针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增***应得到明显的***内置高清晰摄像头液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然天瑞EDX4500H维修技术参数天瑞EDX4500H维修产品型号：EDX4500H产品名称：X荧光光谱仪测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）元素含量分析范围：ppm—99.99%（不同元素，分析范围不同）同时分析元素：一次性可测几十种元素测量时间：30秒-200秒探测器能量分辨率为：145&plu***n;5eV管压：5KV-50KV管流：50μA-1000μA测量对象状态：粉末、固体、液体输入电压：AC110V/220V环境温度：15℃-30℃环境湿度：35%-70%样品腔体积：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg天瑞EDX4500H维修http://www.m-/SonList-mlhttp:///st350973/erlist_ml)