电工电子产品环境试验明细清单1.低温试验电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温GB/T2423.1-2008，IEC60068-2-1:2007只做：温度≥-70℃2.高温试验电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温GB/T2423.2-2008，IEC60068-2-2:2007只做：温度≤300℃环境试验第2部分：试验方法试验Cab：恒定湿热试验GB/T2423.3-2016，IEC60068-2-78：2012只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH3.恒定湿热试验环境试验第2部分：试验方法试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加速试验GB/T2423.50-2012，IEC60068-2-67:1995只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH4.交变湿热试验电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Db：交变湿热（12h＋12h循环）GB/T2423.4-2008，IEC60068-2-30:2005只做：温度（10～95）℃,湿度：（20～98）%RH5.振动试验电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fc和导则：振动（正弦）GB/T2423.10-2008，IEC60068-2-6:1995只做：频率2Hz～3000Hz,位移≤51mm电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Fh：宽带随机振动（数字控制）和导则GB/T2423.56-2006，IEC60068-2-64:1993电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Fi:振动混合模式GB/T2423.58-2008，IEC60068-2-80:20056.温度变化环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化GB/T2423.22-2012，IEC60068-2-14:20097.温度/湿度组合循环环境试验第2部分：试验方法试验Z/AD：温度/湿度组合循环试验GB/T2423.34-2012，IEC60068-2-38:20098.跌落电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ed:自由跌落GB/T2423.8-1995，IEC60068-2-32:19909.机械冲击电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ea和导则:冲击GB/T2423.5-1995，IEC60068-2-27:198710.碰撞电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Eb和导则:碰撞GB/T2423.6-1995，IEC60068-2-29:198711.倾跌与翻倒电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ec和导则:倾跌与翻倒(主要用于设备型样品)GB/T2423.7-1995，IEC60068-212.砂尘电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验L：沙尘试验GB/T2423.37-2006，IEC60068-2-68:1994只做：方法La2:恒定气压电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Ka：盐雾GB/T2423.17-2008，IEC60068-2-11:198113.盐雾人造气氛腐蚀试验盐雾试验GB/T10125-2012，ISO9227:2006环境试验第2部分:试验方法试验Kb:盐雾，交变(氯化钠溶液)GB/T2423.18-2012，IEC60068-2-52:199614.温度冲击环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化GB/T2423.22-2012，IEC60068-2-14:2009电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验R：水试验方法和导则GB/T2423.38-2008，IEC60068-2-18:200015.外壳防护外壳防护等级（IP代码）GB/T4208-2008，IEC60529:200116.低温/振动(正弦)综合试验电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/AFc：散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验GB/T2423.35-2005，IEC60068-2-50:198317.高温/振动(正弦)综合试验电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验GB/T2423.36-2005，IEC60068-2-51:198318.温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/ABMFh：温度（低温、高温）/低气压/振动（随机）综合GB/T2423.59-200819.温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验：温度（低温、高温）/低气压/振动（正弦）综合GB/T2423.102-200820.可靠性可靠性试验第1部分：试验条件和统计检验原理GB/T5080.1-2012，IEC60300-3-5:2001可靠性试验第2部分：试验周期设计GB/T5080.2-2012，IEC60605-2:1994设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法(指数分布)GB/T5080.4-1985，IEC60605-4:1978设备可靠性试验成功率的验证试验方案GB/T5080.5-1985，IEC60605-5:1982设备可靠性试验恒定失效率假设的有效性检验GB/T5080.6-1996，IEC60605-6:1989设备可靠性试验恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案GB/T5080.7-1986，IEC60605-7:1978)