MarSurfWM100高精度光学测量仪高精度光学测量仪MarSurfWM100有亚纳米级分辨率和测量精度。3D***测量系统。特性亚纳米分辨率和测量***度下有***高精度适合所有光学和反射表面、精细技术表面和电路板、半导体产品和生物***表面2D表面分析和测量评估地形学3D表面分析和测量评估快速测量#96短测量时间在***多4个轴上手动***工作台和物体多种镜头选择，可根据测量对象进行***调整采用花岗石底座的稳固型设计基于Mountain***ap©的***评估软件技术数据测量原则使用干涉仪，***光源(WLI)：高功率LED，505nm测量范围mm传感器装置在Z方向可手动移动200mm载物台在X和Y方向可手动移动干涉仪，***：测量范围(WLI)：***高100µm（垂直）接口230V,50Hz应用机器建造：所有类型纯金属表面（打磨，轧制等），以及激光结构表面、细陶瓷和塑料表面、铸模表面***：植入体、假肢和仪器的金属、陶瓷和塑料表面电子：涂层表面分析，电子和半导体组件的测量和分析光学：各种光学组件（所有材料）的粗糙度分析附件传感器系统，包含：WLI传感头相机，768x582像素，***高48图像/秒100µmZ轴，带压电驱动WLI软件模块，"Inspector"软件花岗石底座和立柱，配有手动***传感器系统手动XY载物台用于测头***20x0.4DI镜头（***）CT120双轴倾斜工作台设置工作台角+/-30°标准套件***：WLI物镜2.5x0.075；5x0.13；10x0.3；20x0.4；50x0.55；100x0.7可选：配备减震器来为纳米和亚纳米范围测量优化减震)