RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-2000RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-2000简单介绍基于JISR-3255标准，以MICROSCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。为成膜研究与测试所必备的测试设备。RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-2000的详细介绍CSR-2000基于JISR-3255标准，以MICROSCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。超薄膜附着强度测试仪的概要超薄膜附着强度测试：原子化（分子化）的膜材料到达基材表面成型时，与基材表面的原子的结合数会直接影响到膜的密着强度。这个结合数，受分子的能量状态、基板的清洗状态等的影响。在与成膜有关的研究开发机工程管理中，可使用本设备进行密着强度的评价。以往的划痕测试仪，摩擦膜表面造成***点时，依靠摩擦力的变化及音响信号等来评价密着强度。但是，膜厚在微米级以下的薄膜的***点很难检测出来。为解决这个问题，CSR-2000采用高感度的能够检测出薄膜***的MICROSCRATCH法，测试纳米级别的薄膜的附着强度。***适合评价液晶显示屏的透明电极膜、光学薄膜、DLC、磁盘的保护膜等的附着强度。RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-2000的特点具有直线增加荷重的控制功能，在镜头等的曲面上也能做测试可以进行以特定荷重来评价的特定负荷测试基于信号的FFT分析功能，高感度进行剥离检测测试部位的设定以及测试后的划伤观察等简单易行测试不需要花费很多时间(1次测试约1～2分钟)与小型硬度计等薄膜物性测试仪相比，能够在普通的操作台上测试能进行JISR-3255标准(以剥离为基板的薄膜附着性测试方法)的测试RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-2000的相关参数荷重检出装置荷重印加范围1mN/1000mN荷重分辨率0.2mN允许过负荷300%FS摩擦力检出装置速度倍号输出1mV频率量程20H卜10kHz励振频率45Hz励振振幅0-5-10-20-40-50-80-100jum触针材质金刚石触针形状_R5-10-15-25-50-100jL/mZ轴驱动装置※荷重印加方向驱动分辨率0.5um驱动速度0.1-10um/secX轴驱动装置※Scratch方向驱动范围20mm驱动分辨率0.5um驱动速度0.20um/sec丫轴驱动装置驱动范围&plu***n;6.5mm数据输出方式USB尺寸及重量W350xD370xH450(26kg)电源AC100-240VRHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-2000的相关产品RHESCA/力世科沾锡能力测试机/沾锡测试机/可焊测试仪/沾锡天平/沾锡试验机SAT-5100/5200Tmalcom马康SP-2沾锡天平，可焊性测试仪SANYOSEIKO山阳精工可焊性测试仪/沾锡天平SWET-s3000SANYOSEIKO山阳精工可焊性测试仪/沾锡天平SWET-2100eRHESCA/力世科PTR-1102/PTR-1101/PTR-1100/STR-1101/STR-1100拉力测试技术/推拉力测试系统/推拉力测试机/焊接强度测试仪RHESCA/力世科推拉力计/接合强度试验机/接点强度试验机/接合强度测试仪/拉力测试仪PTR-1100/PTR-1101/PTR-1102RHESCA/力世科RHESCA划痕测试仪CSR-1000RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-2000)