超高分辨率纳米焦点DR检测系统关键特征：190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率纳米焦点射线JIMA卡空间分辨率测试可达0.5微米支持多种平板探测器，探元大小可选50微米/100微米/139微米/200微米主要技术规格：微米焦点射线管类型穿透型纳米焦点射线管***大管电压190kV/225kV/240kV冷却封闭式自循环冷却焦点大小0.5微米(采用JIMA卡测试)探测器类型非晶硅平板探测器像素大小100um/127um/139um/200um像素数量平板探测器：>2048′2048机械系统类型高精度机械系统***大有效检测范围可定制化***大承重可定制化旋转nx3600软件类型二维射线检测软件功能系统控制、二维射线检测、平板探测器校正、图像处理、灰度分析、图像滤波、测量功能、支持定制化软件功能)