OLYMPUSLEXTOLS4500是结合了传统光学显微镜、激光扫描显微镜（L***）以及探针扫描显微镜（SPM）功能的一体机。LEXTOLS4500可以满足不同样品的观测需求，是一台新时代的观察、测量装置。LEXTOLS4500可以轻松实现从毫米到纳米的观察和测量，放大倍率由几十倍到高达百万倍。找到观测目标（观察对象）后，您可以在光学显微镜模式、激光显微镜模式和探针显微镜模式之间自由切换，而不用担心目标丢失。并且您可以使用探针显微镜迅速而正确的完成观察，大大缩短了获取影像的时间。这些便是OLS4500一体机的自由操作带给您的益处。更加方便、更加顺利地完成超大范围观察和测量。实现了自由切换操作的LEXTOLS4500。光学显微镜是从样品上方照射可见光（波长约400nm到800nm），利用其反射光成像，能够放大样品数十倍到一千倍左右进行观察。光学显微镜的特长是可以真实观察彩色样品，还可以切换观察方法，强调样品表面的凹凸，利用物质的特性（偏光性）进行观察。OLS4500上可以使用：明视场观察，微分干涉观察，简易偏振光观察。LEXTOLS4500采用405nm的短波长半导体激光、高数值孔径的专用物镜、以及独特的共焦光学系统，可以达到0.12μm的平面分辨率。此外，OLS4500配有奥林巴斯独有的扫描加扫描型2D扫描仪，可以实现高达4096×4096像素的高精度XY扫描。OLS4500上采用了光杠杆法——通过高灵敏度检测出***前端装有探针的微悬臂的微小弯曲量（位移）来进行观测的方法。在悬臂的背面反射激光，并用压电元件驱动Z轴，使激光照射到光电检测器的指***置，从而正确读取Z方向的微小位移。OLS4500配有：接触模式，动态模式，相位模式，电流模式，表面电位模式（KFM），磁力模式（MFM）。■应用LEXTOLS4500可用来测量表面物理形貌，进行微纳米尺度的三维形貌分析，如3D表面形貌、2D的纵深形貌、轮廓（纵深、宽度、曲率、角度）、表面粗糙度等。􀀹精密部件：检测对表面磨损，表面粗糙度，表面微结构有要求的零部件；􀀹生命科学􀀹微电子机械系统：微型器件的检测，医药工程中***结构的检测，如***芯片等􀀹半导体：检测微型电子系统，封装及辅助产品结构设计􀀹太阳能：太阳能电池片栅线的3D形貌表征、高宽比测量，制绒后3D形貌表征（单晶金字塔大小、数量、角度，多晶腐蚀坑形貌、密度），粗糙度分析等􀀹纸张：纸张、钱币表面三维形貌测量􀀹LED行业■技术参数L***部分光源：白光LED，405nm半导体激光检出系统：光电倍增管分辨率：移动分辨率10nm，显示分辨率1nm物镜转换器：6孔电动物镜转换器物镜：100x，50x，20x等（可选）变焦：光学变焦：1～8X，数码变焦：1～8XSPM部分光源：659nm半导体激光检出设备：光电检测器***大扫描范围：X/Y方向，30μmx30μm，Z方向：4.6μm，微悬臂规格：根据用途不同微悬臂有不同型号、类型工作电源：100-240V,50-60Hz,总重量：约440KG设备咨询联系人:RonnieChen+86-21-13651969369+86-21-61533166ronniechen@.cn)