产品简介X-Strata920镀层测厚仪：又称X射线荧光镀层测厚仪，是能量色散X射线荧光(EDXRF)技术的大型台式测厚仪，是牛津仪器CMI900系列镀层测厚仪的升级产品，将取代CMI900系列产品。能进行非***、非接触，快速无损测量，在10秒内得出测量结果，可进行多层合金测量，具有高生产力优点，是质量管理、成本节约有力的检测工具。详细介绍X-Strata920X射线测厚仪仪器介绍X-Strata920镀层测厚仪：又称X射线荧光镀层测厚仪，是能量色散X射线荧光（EDXRF）技术的大型台式测厚仪，是牛津仪器CMI900系列镀层测厚仪的升级产品，将取代CMI900系列产品。能进行非***、非接触，快速无损测量，在10秒内得出测量结果，可进行多层合金测量，具有高生产力优点，是质量管理、成本节约有力的检测工具。适用范围用于电子元器件、半导体、PCB、FPC、LED支架、连接器、端子、卫浴洁具、五金件、汽车零部件、首饰饰品、装饰件、功能性电镀……多个行业表面镀层厚度的测量；测量镀层，金属涂层，薄膜的厚度或液体（镀液的成分分析）组成。主要特点可测元素范围：钛Ti22---铀U92；可测定5层（4层镀层底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；进行***检测，如Aukarat评价；材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；测量精度高、稳定性好，测量结果***至μin；强大的数据统计、处理功能，测量结果输出多样化；拥有NIST认证的标准片；提供***服务及。X射线测厚仪http:///ParentList-mlhttp:///st20267/list_ml)