镀层测厚仪
详细介绍测定元素范围:Ti22到U92探测器正比计数器单准直器任选:0.3mm或者0.5mmΦ数字脉冲处理器2048通道、数字式多通道分析器电源要求:110V/230V60Hz/50Hz镀层和成分分析镀层:***多同事测定5层(4层镀层+基本材料)成分:***多同时测定20种元素X射线激发:50KV、1.2mA(60W)高压发生器微聚焦W靶X射线管准直器单准直器任选:0.2mm,0.3mm,0.5mmΦ,0.1mm×0.3mm,多准直器程控交换:0.06mm×0.06mm,0.05mm×0.15mm,0.1mm×0.2mm,0.2mmΦ或0.06mm×0.06mm,0.05mm×0.15mm,0.1mm,0.2mmΦ(选配件)计算机/显示屏/操作系统InPentiumG230,2GRAM,500G硬盘(配置相当或者更高)19寸TFT平板彩色显示器Microsoft™Windows732bit成像系统彩***系统20倍放大倍数被测样品图像实时显示功能电脑显示屏具有画中画功能工作环境要求50°F(10℃)-95°F(35℃)***高98%相当湿度(无冷凝水)推荐在空调环境中使用样品台规格X-Y手动样品台:600×600mm;***大承重25kg***大样品高度175mm或者350mm可调X-Y程控样品台:X-Y台面尺寸300mm×250mm***大承重5公斤:程控距离X=300mmY=250mm(选配件)程控Z轴移动距离:180mm:可使用鼠标或者手柄控制镀层测厚仪http:///ParentList-mlhttp:///st20267/list_ml)