CSR-2000_RHESCA超薄膜附着强度测试仪衡鹏供应RHESCACSR-2000超薄膜附着强度测试仪简单介绍基于JISR-3255标准，以MICROSCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。为成膜研究与测试所必备的测试设备。CSR-2000超薄膜附着强度测试仪的详细介绍CSR-2000基于JISR-3255标准，以MICROSCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。超薄膜附着强度测试仪的概要超薄膜附着强度测试：原子化（分子化）的膜材料到达基材表面成型时，与基材表面的原子的结合数会直接影响到膜的密着强度。这个结合数，受分子的能量状态、基板的清洗状态等的影响。在与成膜有关的研究开发机工程管理中，可使用本设备进行密着强度的评价。以往的划痕测试仪，摩擦膜表面造成***点时，依靠摩擦力的变化及音响信号等来评价密着强度。但是，膜厚在微米级以下的薄膜的***点很难检测出来。为解决这个问题，CSR-2000采用高感度的能够检测出薄膜***的MICROSCRATCH法，测试纳米级别的薄膜的附着强度。***适合评价液晶显示屏的透明电极膜、光学薄膜、DLC、磁盘的保护膜等的附着强度。RHESCACSR-2000超薄膜附着强度测试仪的特点·具有直线增加荷重的控制功能，在镜头等的曲面上也能做测试·可以进行以特定荷重来评价的特定负荷测试·基于信号的FFT分析功能，高感度进行剥离检测·测试部位的设定以及测试后的划伤观察等简单易行·测试不需要花费很多时间(1次测试约1～2分钟)·与小型硬度计等薄膜物性测试仪相比，能够在普通的操作台上测试·能进行JISR-3255标准(以剥离为基板的薄膜附着性测试方法)的测试CSR-2000超薄膜附着强度测试仪的规格参数荷重检出装置荷重印加范围1mN/1000mN荷重分辨率0.2mN允许过负荷300%FS摩擦力检出装置速度倍号输出1mV频率量程20H卜10kHz励振频率45Hz励振振幅0-5-10-20-40-50-80-100jum触针材质金刚石触针形状_R5-10-15-25-50-100jL/mZ轴驱动装置荷重印加方向驱动分辨率0.5um驱动速度0.1-10um/secX轴驱动装置Scratch方向驱动范围20mm驱动分辨率0.5um驱动速度0.20um/sec丫轴驱动装置驱动范围&plu***n;6.5mm数据输出方式USB尺寸及重量W350xD370xH450(26kg)电源AC100-240V了解更多：http:///pulltester/csr-mRHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-2000相关产品：衡鹏供应RHESCA/力世科SAT-5100/5200T/5200TN沾锡能力测试机/沾锡测试机/可焊测试仪/沾锡天平/沾锡试验机RHESCA/力世科PTR-1102/PTR-1101/PTR-1100/STR-1101/STR-1100拉力测试技术/推拉力测试系统/推拉力测试机/焊接强度测试仪RHESCA/力世科PTR-1100/PTR-1101/PTR-1102推拉力计/接合强度试验机/接点强度试验机/接合强度测试仪/拉力测试仪RHESCA/力世科CSR-1000划痕测试仪)