NSCP探头MCP-NSCP《四探针探头,特殊用探头》Siliconewafer用Pin间1.0mm，Pin尖0.04R×4支，压力250g/支BSP探头MCP-TPO5P《四探针探头,特殊用探头》大样品用Pin间2.2mm，Pin尖0.37R×4支，压力210g/支TFP探头MCP-TFP《四探针探头,特殊用探头》Siliconewafer或玻璃基板上之薄膜用Pin间1.0mm，Pin尖0.15R×4支，压力50g/支AP探头MCP-TPAP《二探针探头》标准样式Pin间10mm，Pin尖Ø2×2支，压力240g/支BP探头MCP-TPBP《二探针探头》大样品用Pin尖Ø2×2支，压力240g/支MCP-TRF1探头检验片ASP,ESP探头用(探头检验片于测定前检查之)MCP-TRPS探头检验片PSP探头用(探头检验片于测定前检查之)MCP-TRTF探头检验片TFP,NSCP探头用(探头检验片于测定前检查之))