仪器设备型号：MINITEST1100/2100/3100/4100用于测量以下覆层(覆层包括涂层、镀层等)：·钢铁基体上的非磁性覆层·有色金属上的绝缘覆层·绝缘基体上的有色金属覆层德国EPK(Elektrophysik)公司涂镀层测厚仪MiniTest1100/2100/3100/4100特点：MiniTest1100/2100/3100/4100包括四种不同的主机，各自具有不同的数据处理功能；所有型号均可配所有探头；可通过RS232接口连接MiniPrint打印机和计算机；可使用一片或二片标准箔校准。技术特征：型号1100210031004100MINITEST存储的数据量应用行数(根据不同探头或测试条件而记忆的校准基础数据数)111099每个应用行下的组(BATCH)数(对组内数据自动统计计算，并可设宽容度极限值)11099可用各自的日期和时间标识特性的组数1500500数据总量1100001000010000MINITEST统计计算功能读数的六种统计值x,s,n,max,min,kvar√√√读数的八种统计值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk√√组统计值六种x,s,n,max,min,kvar√√组统计值八种x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk√√存储显示每一个应用行下的所有组内数据√分组打印以上显示和存储的数据和统计值√√显示并打印测量值、打印的日期和时间√√√其他功能设置极限值√√连续测量模式快速测量，通过模拟柱识别最大最小值√√连续测量模式中测量稳定后显示读数√√连续测量模式中显示最小值√√可选探头参数所有探头都可配合任一主机使用。在选择最适用的探头时需要考虑覆层厚度，基体材料以及基体的形状、厚度、大小、几何尺寸等因素。F型探头：测量钢铁基体上的非磁性覆层N型探头：测量有色金属基体上的绝缘覆层FN两用探头：同时具备F型和N性探头的功能探头量程低端分辨率误差最小曲率半径(凸/凹)最小测量区域直径最小基体厚度探头尺寸磁感应法F050-500μm0.1μm±(1%±0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mmF1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mmF1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mmF2/900-2000μm0.2μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mmF30-3000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mmF100-10mm5μm±(1%±10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mmF200-20mm10μm±(1%±10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mmF500-50mm10μm±(3%±50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm两用FN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm/N50μmφ15x62mmFN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面30mmF0.5mm/N50μmφ21x89mmFN20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm/N50μmφ15x62mm电涡流法N020-200μm0.1μm±(1%±0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mmN.08Cr0-80μm0.1μm±(1%±1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mmN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mmN1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mmN20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm50μmφ15x62mmN2/900-2000μm0.2μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mmN100-10mm10μm±(1%±25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mmN200-20mm10μm±(1%±50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mmN1000-100mm100μm±(1%±0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mmCN0210-200μm0.2μm±(1%±1μm)平面7mm无限制φ17x80mmF1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90为直角探头，用于管内测量。N.08Cr适合铜上铬，FN2也适合铜上铬。CN02用于绝缘体上的有色金属覆层。)