高倍测量显微镜TZSTM-2010
仪器特性:‧光学尺显示器精度解析可达1um,以提供使用者高精度保证。‧采用高精度花岗石【精密级(00级)】底座,以提供机台稳定性之操作,提升工具显微镜之质量。‧采两段式(粗微调)对焦系统,方便人员操作,以解决令人困扰的对焦问题。‧采用高亮度、低温度同轴照明系统可避免待测工件受灯泡热度造成热膨胀之影响。‧可透过计算机量测系统做复杂性及大量工件量测,并可透过量测系统来照相及量测数据计算机化,可将量测数值做成WORD、EXCEL报表。适用行业:半导体、电子、晶圆封装、LCD、PCB、LED、连接器、导电架、电子零组件、精密加工、模具、冲压件、弹簧、刀具、塑料、轴承、汽机车零件业、端子,…….等。技术参数:光学成像系统无限远光学系统,管镜焦距200mm;光学放大倍数50x-500x;;铰链式三目镜筒,30°倾斜,瞳距55-75mm;高眼点,大视场目镜WF10X/22;长工作距离;五孔物镜转换器;冷光源光纤反射照明器:150W平场复消色差物镜2X/0.055,5X/0.14,10X/0.28,20X/0.29,50X/0.42精密工作台X,Y,Z工作行程:200x100x150mm;分辨率:0.001mm仪器精度:&plu***n;(2+L/200)μm;重复性:2μm数字放大倍数***1/2`CCD摄像头,1XCCD适配器,数字放大倍数:170~1700X.数字测量系统Dell电脑,数据处理器DP300和3D测量(高)软件QuickMeasuring可选附件***CCD摄像头JT160;工作台:300x200;400x300;500x300)
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