您的产品符合RoHS指令吗？您收到的黄金与你所付出的相一致吗?您的电镀过程是否节省成本并且可靠呢?该款仪器特别为颇具挑战性的RoHS/WEEE分析而研发。而且，它还十分适合于测量黄金及其他***，分析金的成分重复性可达0,5‰。如果你对这些问题不能肯定的话，那么FISCHERSCOPE®X-RAYXDV®-SDD是您理想的选择!对于镀层：不仅可以测量其成分比例，还可以测量器厚度!XDV®-SDD是一款真正全能的测试仪器!RoHS/WEEE可靠地测量Pb,Hg,Cd,Br及Cr元素。在塑料中可达到的测量下限Pb为2ppm，对Cd为10ppm。RoHS/WEEE对Pb的限制为1000ppm以及对Cd为100ppm，仪器能可靠地予以验证。塑料样品可以不考虑其厚度而进行准确分析。即使是微小的电子元器件或印刷线路板上的镀层系统也可以高精度地分析。XY(Z)平台可用来自动扫描印刷线路板。WinFTM®V.6BASIC软件在一次测量过程中，***多可测定包括镀层厚度和元素成分比例在内多达24个特征参数。可测的镀层厚度小至10纳米。大多数情况下，复杂的多镀层系统可以在无标准片（无调校）模式下高精度地分析。每个程式在使用***多64片标准片下，可达到***高的准确度。这同时也保证了测量结果的可追溯性。X射线校准标准片提供DKD校准证书，遵循DINENISO/IEC17025标准。WinFTM®V.6软件能***测量从几个ppm到100%的成分含量。)