TESA ETALON TCM200显微镜
主要特征模块化结构设计,可根据需要进行光学长度测量或表面金相检验.优化的照明系统,精密滚珠轴承工作台(150X100,250X150mm两种),线性金属光栅尺组成的光电测量系统,计算机内核的数据处理单元,RS232数字输出,出厂前的检验合格证书.三坐标的非接触测量,无测量力测量分辨率0.5μm***小的允许误差保证了测量的高精度,如150mm长度测量的允许误差仅为2.6μm宽大的测量空间,长度方向没有空间限制放大倍率达1000倍的表面结构检验,光源照明充分视频摄像系统可进一步进行图像分析主机及其配置订货号/OrderNumber06839006068390070683900806839009带双目镜的主机35瓦透射冷光源90瓦反射冷光源测量范围为150X100毫米的工作台测量范围为250X150毫米的工作台可进行Z轴测量数据处理单元QUADRA-CHECK220QUADRA-CHECK230技术指标订货号06839006068390070683900806839009测量范围(mm)150X100250X150150X100250X150轴向***大允许误差(1.8+0.005L)μm,(Linmm)(2.5+0.01L)μm(Linmm)(1.8+0.005L)μm(Linmm)(2.5+0.01L)μm(Linmm)主机重量110kg140kg110kg140kg外型尺寸(宽X高X深)356X662X540)
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