在直读光谱仪上进行分析的样品均要求为块状固体。制备块状铝箔样品，途径一是将样品高温加热至熔融，然后冷却使其凝结成块状；其二是通过机械外力作用把铝箔压制成结实的块状。前者对于分析一些易挥发性元素（As,Sn等）不利；此外，如果铝箔样品表面经过钝化等工艺处理，难于融结。用第二种方法制备样品，并以激发时收集到的基体元素Al的光强来比较各种制样方法的差异。结果表明，由机械压样机破碎样压制制备的铝箔样品可胜任在直读光谱仪上进行快速分析，测定的结果与化学方法相一致，适合于日常检验样品量繁重的工厂、实验室、品质检验部门之样品的制备及检测。次数用完APIKEY超过次数限制在工业生产中，由于光电直读光谱仪分析费用节省，分析速度快，分析结果可靠，已被广泛采用。光电直读光谱仪由光源部分、聚光部分、分光部分和测光部分所组成。光源部分使试样激发发光；聚光部分是把发出的光聚集起来导入分光部分；分光部分是将光色散成各元素的谱线；测光部分是用光电法测量各元素的谱线强度，并指示、记录下来，或是将其测光读数换算成为元素质量分数表示出来。目前无论国内还是国外的光电直读光谱仪，基本可按照功能分为4个模块，即：1、激发系统：任务是通过各种方式使固态样品充分原子化，并放出各元素的发射光谱光。2、光学系统：对激发系统产生出的复杂光信号进行处理（整理、分离、筛选）。3、测控系统：测量代表各元素的特征谱线强度，通过各种手段，将谱线的光强信号转化为电脑能够识别的数字电信号，控制整个仪器正常运作。次数用完APIKEY超过次数限制直读光谱仪可用于铸造、锻造、机械配件、装备制造、质检、高校教学培训等领域。在直读光谱仪分析过程中，采用高稳定的激发光源,激发频率在150—500Hz之间变化,分析不同的样品,可选择不同的激发参数,可达到佳的分析效果。直读光谱仪中有关第三元素影响的问题谱线干扰:由于试样组分复杂，所选元素的分析线直接受试样中其它组分发射谱线的影响，这种影响又称为光谱干扰。基体。简单的说，样品中除了少量存在的待测物之外，还有大量的其他物质，这就是基体。基体效应。实验证明，当被测元素的浓度一定时，分析元素谱线的绝强度及相对强度值不仅决定于蒸发、激发等摄谱条件，而且与试样总组成有关。试样总组成对谱线强度的影响称为第三元素的影响。第三元素是指除了内标和分析元素以外而存在于试样中的元素，这种影响有时称为基体效应。次数用完APIKEY超过次数限制在实际分析中会受到第三元素的影响，这些干扰从何而来，我们能够克服它们得到一个好的分析结果吗？直读光谱仪应用的过程中受那些干扰?直读光谱仪中有关第三元素影响的问题当选择了不适宜的基体内标时，由于基体含量的变化造成分析线对相对强度的变化，影响结果的稳定。当用铁内标进行低合金钢分析时，要求基体含量基本不变。第三元素的存在影响试样的蒸发过程。蒸发过程对谱线强度的影响是复杂的，所得研究规律还很不完善，仍属定性的经验规律。所以分析时应采用与试样组成及***结构尽量一致的标准样品或控制样品。次数用完APIKEY超过次数限制)