JKZC-ST4型半导体材料数字式四探针测试仪关键词：电阻，电阻率，四探针，半导体一、产品概述JKZC-ST4型数字式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国A.S.T.M标准。仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、测量简便、结构紧凑、使用方便等特点。仪器适用于半导体材料厂器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的导电性能的测试。二、符合：1、符合GB/T1551-2009《硅单晶电阻率测定方法》、2、符合GB/T1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》3、符合美国A.S.T.M标准二、产品应用：1、测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻；2、可测柔性材料导电薄膜电阻率/方阻3、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）电阻率/方阻4、纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻5、电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量6、可测试电池极片等箔上涂层电阻率方阻二、基本技术参数1、测量范围电阻：1×10-4～2×105Ω，分辨率：1×10-5～1×102Ω电阻率：1×10-4～2×105Ω-cm，分辨率：1×10-5～1×102Ω-cm方阻：5×10-4～2×105Ω/□，分辨率：5×10-5～1×102Ω/□静压电系数：0-2000PC/N（另配）2、测量方式：自动或手动3、基本精度：&plu***n;0.1/%4、四探针探头：(1)碳化钨探针：Φ0.5mm，直线探针间距1.0mm，探针压力:0～2kg可调(2)薄膜方阻探针：Φ0.7mm，直线或方形探针间距2.0mm，探针压力:0～0.6kg可5.电源：198V－242V(AC），47.5Hz－63Hz6、操作环境：0°C－40°C，≤90%RH7、外形尺寸：200mm（长）×220mm（宽）×100mm（高）8、数据传输方式；USB9、软件方式：人性化分析软件界面，数据自动生成10、可以配合压电材料的静压电d33系数:0-2000PC/N分析软件（一）)