RHESCACSR-5000超薄膜附着强度测试仪衡鹏供应RHESCACSR-5000超薄膜附着强度测试仪基于JISR-3255标准，以MICROSCRATCH法评价光学薄膜、半导体扩散工程、表面改质以及记忆媒体等各种用途的薄膜与基材，或薄膜与界面之间的密着力（附着强度）的超薄膜附着强度测试仪。为成膜研究与测试所必备的测试设备。CSR-5000超薄膜附着强度测试仪特点：·CSR-5000采用高感度的能够检测出薄膜***的MICROSCRATCH法，测试纳米级别的薄膜的附着强度。·可测量膜厚μm以下的超薄膜的密着强度。·加热环境下评价可能。·镜片等曲面测量可能。·可以进行以特定荷重来评价的特定负荷测试·测试部位的设定以及测试后的划伤观察等简单易行·测试不需要花费很多时间(1次测试约1～2分钟)RHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-5000规格荷重检出机构荷重印加范围1mN～1500mN荷重分解能0.3mN允许过负荷300%FS剥离检出（垂直方向）检出信号加速度信号频率范围20Hz～10kHz摩擦力检出（水平方向）检出信号速度信号频率范围20Hz～10kHz传感器励振机构励振频率45Hz励振振幅0·5·10·20·40·50·80·100μm探针触针形状Φ1.6×6.5mm***材质/***形状金刚石R5?10?15?25?50?100μm***材质/***形状蓝宝石R250?500μmZ轴驱动机构※荷重印加方向驱动方式步进马达驱动驱动范围20mm驱动分解能0.5μm驱动速度(测试时)0～20μm/s驱动速度(准备时)1mm/s试料台XY轴移动机构驱动方式千分尺手动调节移动范围&plu***n;6.5mmData输出方式USB尺寸及重量W540×D520×H630(37kg)含显微镜电源AC100V～240V了解更多：http:///pulltester/csr-mRHESCA超薄膜附着强度测试仪CSR-5000相关产品：衡鹏供应RHESCA力世科CSR-1000划痕测试仪RHESCA力世科CSR-2000超薄膜附着强度测试仪)