热阻测试仪应用范围：各种三极管、二极管等半导体分立器件，包括：常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构。各种复杂的散热模组的热特性测试，如热管、风扇等。半导体器件结温测量。半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。半导体器件封装内部结构分析，包括器件封装内部每层结构（芯片+焊接层+热沉等）的热阻和热容参数。半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断，失效分析仪，帮助用户准确***封装内部的缺陷结构。材料热特性测量（导热系数和比热容）。接触热阻测量，包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。在对各种各样的电子产品产品做气密性检测或者密封性防水测试的过程中，有一部分的产品是有进气口(产品的透气孔或者说其他孔)，这类有孔的产品就可以直接连接测试管通过往产品内部加压或者说抽真空来进密性检漏，这种有测试口的往往使用负压法也就是抽真空方法的比较多。还有一部分的产品是属于完全密封(通过点胶、密封腔等完全密封)的产品，这类全密封的产品壳体上是没有任何孔比如说适气孔的，怎么通过气密性测试设备对完全密封产品做气密性检测呢?对于这类全密封产品要使用e气密性测试设备做密封性防水检测，就需要先定制一一个与产品外形轮廓贴合的精密的密封上下密封模具，然后连接到气密性测试设备的测试口/检测接口上，然后将产品放入密封性防水测试模具里面进密性防水检测。当启动测试时，深圳气密性测试设备就会对气密性检漏模具充入定量气体，当产品不漏时，设备失效分析，深圳气密性检漏模具里面的压力基本.上就是没有变化的(恒定的);当检测到产品泄漏(密封性不好)时，定量充进去的气体就会有一部分进入产品内部，所以有泄漏的产品在测试的时候显示的压力就会比无泄漏的产品低或者可以检测出相应的泄漏量，这样就能快速通过密性测试设备检测完全密封的产品是否泄漏进而判定成品的合格性。气密性试验主要是检验容器的各联接部位是否有泄漏现象。介质毒性程度为极度、高度危害或设计上不允许有微量泄漏的压力容器，必须进密性试验。方法压力容器应按以下要求进密性试验：（1）气密性试验应在液压试验合格后进行。对设计要求作气压试验的压力容器，气密性试验可与气压试验同时进行，试验压力应为气压试验的压力。（2）碳素钢和低合金钢制成的压力容器，失效分析设备，其试验用气体的温度应不低于5℃，其它材料制成的压力容器按设计图样规定。（3）气密性试验所用气体，应为干燥、清洁的空气、氮气或其他惰性气体。（4）进密性试验时，安全附件应安装齐全。（5）试验时压力应缓慢上升，达到规定试验压力后保压不少于30分钟，淮安失效分析，然后降至设计压力，对所有焊缝和连接部位涂刷肥皂水进行检查，以无泄漏为合格。如有泄漏，修补后重新进行液压试验和气密性试验。淮安失效分析-苏州特斯特公司-失效分析设备由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司实力不俗，信誉可靠，在江苏苏州的分析仪器等行业积累了大批忠诚的客户。苏州特斯特带着精益求精的工作态度和不断的完善创新理念和您携手步入辉煌，共创美好未来！)