苏州特斯特(图)-EMMI 失效分析-镇江EMMI
EMMI侦测的到亮点、热点(HotSpot)情况;原来就会有的亮点、热点(HotSpot)饱和区操作中的BJT或MOS(SaturatedOrActiveBipolarTransistors/SaturatedMOS)动态式CMOS(DynamicCMOS)二极管顺向与逆向偏压崩溃(ForwardBiasedDiodes/ReverseBiasedDiodesBreakdown)侦测不到亮点情况不会出现亮点的故障奥姆或金属的短路(OhmicShort/MetalShort)亮点被遮蔽之情况埋入式接面的漏电区(BuriedJuncti)金属线底下的漏电区(LeakageSitesUnderMetal)侦测到亮点之情况;会产生亮点的缺陷:1.漏电结;2.解除毛刺;3.热电子效应;4闩锁效应;5氧化层漏电;6多晶硅须;7衬底损失;8.物理损伤等。侦测不到亮点之情况不会出现亮点之故障:1.亮点位置被挡到或遮蔽的情形(埋入式的接面及大面积金属线底下的漏电位置);2.欧姆接触;3.金属互联短路;4.表面反型层;5.硅导电通路等。点被遮蔽之情况:埋入式的接面及大面积金属线底下的漏电位置,这种情况可采用Backside模式,EMMI显微镜,但是只能探测近红外波段的发光,且需要减薄及抛光处理。超景深显微镜是一种双目观察的连续变倍实体显微镜,专为要求工作距离长,观察视域大的用户而设计,EMMI价格,成像清晰,镇江EMMI,外形美观。产品用途:超景深显微镜能将微小的物体加以放大,形成清晰正的立体像。可供卫生、农林、、学校、科研部门作观察分析用,也适用于电子工业和仪器仪表行业作精细零部件的检验、装配、修理。连续变倍单筒视频显微镜提供的光学系统和耐用可靠的操作机构。苏州特斯特(图)-EMMI失效分析-镇江EMMI由苏州特斯特电子科技有限公司提供。行路致远,砥砺前行。苏州特斯特电子科技有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴,更矢志成为分析仪器具有竞争力的企业,与您一起飞跃,共同成功!)