失效分析仪-重庆失效分析-苏州特斯特电子
热阻电性规格:加热电流测量精度(低电流测量:0.2,1和2安培测量)2A系统:±1mA10A系统:±5mA20A系统:(±10mA)加热电流测量精度(高电流测量:2,10和20安培测量):2A系统:±4mA10A系统:±20mA20A系统:(±40mA)加热电压测量精度:±0.25%,重庆失效分析,0~30V热电偶测量精度(T型):典型±0.1°C交流电压:220VAC,10A,设备失效分析,50/60Hz器件的测试的供电电压:20V(标配),其他的是选配。器件的测试的供电电流:30A(标配),失效分析仪,选配(100A200A,400A,800A,1000A及更高电流)节温的感应电流:1mA,失效分析仪器,5mA,10mA,20mA,50mA(标配),100mA,500mA,1000mA,2500mA是选配。数据采样频率1MHz结温精度±0.1°C分辨率:±0.007°C。微焦点X射线针对大尺寸电子模块的缺陷检测和电子行业产品质量控制的需求,解决三维分层成像关键科学问题,实现电子模块封装、印刷电路板、高密封装等焊接质量的高精度自动无损检测,将应用于航天、航空、海装、陆装、战略等各类装备电子学系统的产品鉴定与评估、***性物理分析(DPA)、产品工艺质量鉴定等,在装备的研制生产环节中、在装备研制过程中,识别由于产品设计、工艺设计、物料引入过程中所带来的缺陷,如PCB的孔断、焊点的枕头效应、裂纹、BGA器件焊球缺陷以及结构损伤等,提高电子产品质量和可靠性水平,提升产品研发设计和制造工艺水平,增强电子产品缺陷识别与分析能力。采用了***的Computedlaminography(CL)扫描模式和算法,具备高速扫描获得清晰断层图像的能力。一些看上去非常传统的无损检测方法,实际上也已经发展出了许多新技术,譬如:射线检测——传统技术是:胶片射线照相(X射线和伽马射线)。新技术有:高能X射线照相、数字射线成像(DR)、计算机射线照相(CR,类似于数码照相)、计算机层析成像(CT)、射线衍射等等。超声检测——传统技术是:A型超声(A扫描超声,A超)。新技术有:B扫描超声、C扫描超声(C超)、超声衍射(TOFD)、相控阵超声、共振超声、电磁超声、超声导波等等。失效分析仪-重庆失效分析-苏州特斯特电子由苏州特斯特电子科技有限公司提供。苏州特斯特电子科技有限公司是一家从事“失效分析设备,检测服务,检测仪器”的公司。自成立以来,我们坚持以“诚信为本,稳健经营”的方针,勇于参与市场的良性竞争,使“特斯特”品牌拥有良好口碑。我们坚持“服务至上,用户至上”的原则,使苏州特斯特在分析仪器中赢得了客户的信任,树立了良好的企业形象。特别说明:本信息的图片和资料仅供参考,欢迎联系我们索取准确的资料,谢谢!)
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