传统半导体测试系统的升级版基于PXI的，高性价比的开放式架构及解决方案兼容传统测试平台，包括Teradyne，LTX/Credence和Verigy轻松添加性能：RF测试，数字测试和模拟测试概述MTEK（MarvinTestExpansionKitMarvin测试扩展套件）系列是一个高性价比，PXI总线的测试解决方案，提供***规格的现代化仪器，延长了传统ATE的使用寿命和功能。基于Marvin测试解决方案的PXI机箱和仪器系列产品，MTEK系列可以轻松地与传统的ATE平台集成，提供***的数字，模拟或RF测试功能。基于PXI的开放架构，MTEK系统提供了灵活和可扩展的解决方案，可以专门配置为解决封装和晶圆测试应用的一系列测试需求。旨在支持工程和大批量生产设备，MTEK系列是延长传统半导体ATE系统寿命周期的理想的低成本解决方案。软件MTEK系统配有Windows兼容的仪器驱动程序和虚拟仪表板，可从显示仪器当前设置和状态的窗口提供仪器的交互式控制和监控。此外，数字仪器还提供图形矢量开发/波形显示工具，作为选项，文件导入工具可用于导入和转换STIL，WGL，VCD，eVCD和ATP文件格式。特征MTEK系列核心平台包括9槽PXIExpress机箱和MXI接口，为主机ATE系统提供控制接口。8个外设插槽可用于支持PXI和PXIExpress仪器。可用的PXI仪器提供模拟和数字功能，包括：6.5位数字万用表（DMM）高性能数字I/O与每个引脚的PMU20MS/s采样率AWG（任意波形发生器）70MS/s采样率数字化仪射频信号发生器和分析仪MTEK的紧凑型外形简化了与旧式测试系统的机械集成，用户可以选择通过DUT的负载板或测试仪的***接口来连接MTEK的资源。)