苏州圣全科技-合肥滨松平板探测器
圣全科技是一家专门从事工业自动化设备、技术支持、***服务、设备租赁、安装维护、方案开发和调试检查以及工装夹具设计制造的企业。无损伤检测又称无损伤检测,是指在不损伤被检测的情况下,利用材料内部结构异常或缺陷引起的热、声、光、电、磁等物理量的变化,检测各种工程材料、零件、结构件等内部和表面缺陷。常用的无损检测方法有射线照相检测、超声波检测、涡流检测、磁粉检测、渗透检测、视觉检测、泄漏检测、声音发射检测、射线透I视检测等。AXI技术是一种相对比较成熟的测试技术,其对工艺缺陷的覆盖率很高,通常达97%以上。而工艺缺陷一般要占总缺陷的80%—90%,并可对不可见焊点进行检查,但AXI技术不能测试电路电气性能方面的缺陷和故障从应用情况来看,采用两种或以上技术相结合的测试策略正成为发展趋势。因为每一种技术都补偿另一技术的缺点:从将AXI技术和ICT技术结合起来测试的情况来看,一方面,X射线主要集中在焊点的质量。它可确认元件是否存在,但不能确认元件是否正确,方向和数值是否正确。另一方面,ICT可决定元件的方向和数值但不能决定焊接点是否可接受,特别是焊点在封装体底部的元件,如BGA、CSP等。需要特别指出的是随着AXI技术的发展,AXI系统和ICT系统可以“互相对话”,这种被称为“AwareTest的技术能消除两者之间的重复测试部分。圣全科技是一家专门从事工业自动化设备、技术支持、***服务、设备租赁、安装维护、方案开发和调试检查以及工装夹具设计制造的企业。我们来看看X-RAY的检测项目:1.IC封装中的缺陷检验如﹕层剥离(stripping)、爆裂(crack)、空洞(c***ity)以及打线的完整性检验。2.印刷电路板制程中可能产生的缺陷,如﹕对齐不良或桥接(bridging)以及开路(open)。3.***T焊点空洞(c***ity)现象检测与量测(measuration)。4.各式连接线路中可能产生的开路(open),滨松平板探测器,短路(short)或不正常连接的缺陷检验。5.锡球数组封装及覆芯片封装中锡球(solderball)的完整性检验。6.密度较高的塑料材质破i裂或金属材质空洞(metalc***ity)检验。7.芯片尺寸量测(dimensionalmeasurement),打线线弧量测,组件吃锡面积(Solderarea)比例量测。8.印刷电路板制造工艺检测:焊线偏移,桥接,开路;9.锡球数组封装及覆芯片封装中锡球的完整性检验;10.高密度的塑料材质破i裂或金属材质检验。苏州圣全科技-合肥滨松平板探测器由苏州圣全科技有限公司提供。行路致远,砥砺前行。苏州圣全科技有限公司致力成为与您共赢、共生、共同前行的战略伙伴,更矢志成为工业自动控制系统及装备具有竞争力的企业,与您一起飞跃,共同成功!)