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封装测试设备之BGA球珊阵列式封装技术BGA球珊阵列式封装技术关系到产品的功能性,当IC的频率超过100MHz时,传统封装方式可能会产生所谓的“CrossTalk(串扰)”现象,集成电路封装测试,而且当IC的管脚数大于208pin时,传统封装方式有其困难度,因此,除使用PQFP封装方式外,现今大多数的高脚数芯片(如图形芯片与芯片组等)皆转而使用BGA(BallGridArrayPackage)封装方式。BGA一出现便成为CPU、主板上南/北桥芯片等高密度、、多引脚封装的选择。封装测试设备的芯片载体封装80年代出现了芯片载体封装,其中有陶瓷无引线芯片载体LCCC(LeadlessCeramicChipCarrier)、塑料有引线芯片载体PLCC(PlasticLeadedChipCarrier)、小尺寸封装SOP(***allOutlinePackage)、塑料四边引出扁平封装PQFP(PlasticQuadFlatPackage),以0.5mm焊区中心距,208根I/O引脚的QFP封装的CPU为例,外形尺寸28×28mm,封装测试设备代理,芯片尺寸10×10mm,则芯片面积/封装=10×10/28×28=1:7.8,泰州封装测试,由此可见QFP比DIP的封装尺寸大大减小。QFP的特点是:1.适合用***T表面安装技术在PCB上安装布线;2.封装外形尺寸小,寄生参数减小,芯片封装测试多少钱,适合高频应用;3.操作方便;4.可靠性高。封装测试设备之组件封装:组件封装式PQFP(PlasticQuadFlatPackage塑料四方扁平包装)这种封装的芯片引脚之间的距离很小,管脚很细,一般大规模或超大集成电路都采用这种封装形式,其引脚一般在100个以上。用这种形式封装的芯片必须采用***D(表面安装设备技术)将芯片与主板焊接起来。采用***D安装的芯片不必在主板上打孔,一般在主板表面上有设计好的响应管脚的焊点。将芯片各脚对准相应的焊点,即可实现与主板的焊接。用这种方法焊上去的芯片,如果不用专用工具很难拆卸下来。集成电路封装测试-泰州封装测试-安徽徕森有限公司(查看)由安徽徕森科学仪器有限公司提供。集成电路封装测试-泰州封装测试-安徽徕森有限公司(查看)是安徽徕森科学仪器有限公司升级推出的,以上图片和信息仅供参考,如了解详情,请您拨打本页面或图片上的联系电话,业务联系人:李经理。)
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