电子显微镜的成像方式是根据电子光学原理,用电子束和电子透镜代

电子显微镜的成像方式是根据电子光学原理，用电子束和电子透镜代替光束和光学透镜，使物质的细微结构在非常高的放大倍数下成像的仪器。 透射电镜通常采用热阴极电子枪来获得电子束作为照明源，热阴极发射的电子，在阳极加速电压的作用下，高速地穿过阳极孔，然后被聚光镜会聚成具有一定直径的束斑照到样品上。 透过样品的电子束强度，经过物镜聚焦放大在其平面上形成一幅反映这些信息的透射电子像，经过中间镜和投影镜进一步放大。

带你了解现代科研中的显微镜TEM

透射电镜和高分辨率透射电镜 透射电子显微镜（Tran***ission electron microscope，TEM）以及HRTEM(High Resolution Tran***ission Electron Microscope )高分辨率的透射电镜，分辨率可达0.2nm。 带你了解现代科研中的显微镜 　　TEM是发展较为成熟同时也相当复杂的电子显微镜，当时为了找到波长更短的“光”以达到更高的分辨率，1932年被发明。其成像原理与光学显微镜几乎相同（但还是不同），可以说是用电子束代替可见光的手段。

电子显微镜(scanningprobemicroscope)

现今的电子显微镜和扫描探针显微镜（scanning probe microscope，SPM）具有极高的分辨率，可以“看到”单个原子和化学键，这一尺度范围大概为0.5埃（1埃 为0.1纳米，等于10-10米）。以这种分辨率来观察材料，如石墨烯、催化剂和氧化物等，能够揭示这些材料的结构，以及晶体缺陷对材料性质的影响。

真正理解材料的化学和物理性质

为了真正理解材料的化学和物理性质，我们需要更加地绘制出原子的排列方式。1959年，物理学家理查德· 费曼 （Richard Feynman）在美国物理学会演讲时提到，“在尺度范围来观测材料，有非常多的应用空间”。这里的尺度，费曼将其设定为0.1 埃，当显微镜的分辨率达到0.1 埃后，受原子热振动的限制，显微图像就会到达物理极限。小的结构变形会影响磁性、化合价和自旋态（spin state），而分辨率达到极限后，结构变形就会变得明显。