游标卡尺的基本发展过程

游标卡尺的基本发展过程如下：

现代测量价值的游标卡尺一般认为是由法国人约尼尔·比尔发明的。他是一名数学家，在他的专著《新四分圆的结构、利用及特性》中记述了游标卡尺的结构和原理，而他的名字Vernier变成了英文的游标一词沿用至今。1851年由美国Brown Sharpe 公司将Nonuth 及 Vernier 两个构想制造出支游标卡尺，后由德国Masuer兵工厂加以改良制造，是工程上应用广的量具。1854年荷、法、德、英、都普遍用上了游标卡尺。1856年日本也普及了游标卡尺，游标卡尺的制造技术逐渐更新迅速提高，使之成为了通用性的长度。19世纪中叶，美国机械工业快速发展，美国夏普机械有限公司创始人与1985年秋，成功加工出了世界上批四把0-4英寸的游标卡尺，其精度达到了0.001毫米。

千分尺***标准规定轴向间隙为O

千分尺***标准规定轴向间隙为O．O1mm，在千分尺检定规程中对轴向窜动规定为O．O1 mm，在使用测力装置进行测量时，轴向间隙对测量结果影响不大。因为在检定千分尺示值误差与千分尺测量工件状态相同，微分螺杆牙廊右侧螺母牙廊左侧接触。即检定数显千分尺示值误差或用千分尺测量工件时，当测量面接触量块或工件后，测量力作用于量块或工件上产生的反作用力，将微分螺杆推向右移(右移近的轴向间隙量)，使微分螺杆牙廊的右侧密贴在螺母牙廊的左侧上故轴向间隙影响不大。

千分尺示值误差是反映

千分尺示值误差是反映千分尺精度的综合性指标，是各种故障和缺陷的综合反映。比如：测量面的平行度，平面度不合格；测微螺杆的轴向窜动或径向摆动；测力过大或过小；刻线不以及其它结构上的各种缺陷都会造成示值误差不合格。按照千分尺修理顺序，排除了上述故障之后，仍然不能解决示值误差的问题时，就要考虑对测微螺杆进行修理。调修前应检查各点示值误差的分布情况，以便找出磨损部位和确定研磨量。通常情况下，凡示值误差为正值时，此处的螺纹磨损较少；凡示值误差为负值时，此处的螺纹磨损较多。经验表明：螺纹转动较“紧”的地方，示值误差为正值；螺纹转动较“松”的地方，示值误差为负值。因此，哪个部位示值误差是正值，就多研磨哪个螺纹，使测微螺杆转动时全程松紧程度一致，从而消除不均匀磨损造成的示值误差。