陶瓷量块长度的直接测量

陶瓷量块因材料的特殊性，它的微观结构中分布着许多极微细的气孔，容易排除空气达到很好的研合效果。对于二等以上的陶瓷量块，通常采用柯氏干涉仪直接测量陶瓷量块长度。采用柯氏干涉仪测量量块的长度，由于研合平晶一般为玻璃平晶，需要对材料差异进行修正。材料差异修正值(修正量C)与量块材料、表面粗糙度、研合质量等特性密切相关，要准确测得陶瓷量块的长度，不能采用钢量块和玻璃平晶研合时的修正量C，要通过实验的方法确定陶瓷与玻璃的修正量。陶瓷量块研合在玻璃平晶上时，其研合厚度t与陶瓷量块研合在陶瓷平板上的研合厚度t是不相同的，光在不同材料表面反射时，会产生位相跳跃，设其引起的测量误差为Ⅳ，则用柯氏干涉仪测量陶瓷量块长度时的修正量c，=N t，一t：。

划伤数显卡尺的主尺、或用电笔在上面写字等

划伤数显卡尺的主尺、或用电笔在上面写字等，会给电装部带来很大的干扰，从而造成故障。卡尺注意防止掉落，撞击。电装部故障以及测量面，滑块变形都会成为精度不良的原因。由于卡尺非常锋利，使用过程中一定要小心不要受伤当用爪子的根部或去测量时，需要特别小心，因为在这种情况下可能会发生较大误差的情况。卡尺使用后，将水分（油）擦干然后擦上薄薄的一层防锈油（将防锈油晾干），再收纳保管。防水型卡尺的本体也会生锈，所以请一定要将水擦拭干净。

精密测量仪的感应元件与被测零件表面不直接触

精密测量仪：二次元

二次元是一种、高精密特性的非接触式的测量仪器。测量器具的感应元件与被测零件表面不直接接触，因而不存在机械作用的测量力；二次元通过投影的方式将所能到的图象通过数据线传输到电脑的数据采集卡中，之后由软件在电脑显示器上成像；可进行零件上各种几何元素（点、线、圆、弧、椭圆、矩形）、距离、角度、交点、形位公差（圆度、直线度、平行度、垂直度、倾斜度、位置度、同心度、对称度）的测量，还可进行外形轮廓2D描绘用CAD输出。不仅能观测到工件轮廓，而且，对于不透明的工件的表面形状也可以测量。