双晶线阵腐蚀检测用超声相控阵探头的设计开发

根据腐蚀检测的应用需求,依靠多年的相控阵探头开发经验,结合国外***的解决方案理念,设计开发了国产双晶线阵腐蚀检测相控阵探头,并配合国产的相控阵检测系统,针对国内实际应用环境和需求,开发出应用软件.探头性能指标达到一定的水平,配合软件可以满足国内工业环境中的多种腐蚀检测需求,可以替代国外同类型产品,并更好地满足国内需求。

相控阵超声检测

相控阵检测可以同时拥有B扫、D扫、S扫和C扫描，可以通过建模，建立一个三维立体图形，缺陷显示非常直观，哪怕不懂NDT的人都能看明白，而常规超声波只能通过波形来分辨缺陷。

超声相控阵可以检测复杂工件，比如可以检测涡轮叶片的叶根，常规超声波检测因为探头声束角度单一，存在很大的盲区，造成漏检。而相控阵可以快速，直观的检测。

不同类型的相控阵超声检测

扇形扫描即S扫描，在设定深度上，相控阵探头按聚焦法则分别计算每个偏转角度得聚焦延迟，激发时以从左至右的顺序分别激发，形成一定范围内的扇形扫查。扫查时须要设置扇扫范围、角度间隔和聚焦深度。右图给出了扇形扫查的检测原理和扫查成像图。

线性扫描又称电子扫查。扫描时先将探头阵元分为数量相同的若干小组，由延迟器传输的触发脉冲分别依次激发各小组阵元，检测声场在空间中以恒定角度对探头长度方向进行扫查检测。

线性扫查检测前须要设定好阵元数、聚焦深度。右图给出了线性扫描的检测原理和扫描成像图。