CT检测面探测器
面探测器主要有三种类型:高分辨半导体芯片、平板探测器和图像增强器。半导体芯片又分为CCD和CMOS。CCD对X射线不敏感,表面还要覆盖一层闪烁体将X射线转换成CCD敏感的可见光。
半导体芯片具有小的像素尺寸和大的探测单元数,像素尺寸可小到10微米左右,探测单元数量取决于硅单晶的大尺寸,一般直径在50mm以上。因为探测单元很小,信号幅度也很小,为了增大测量信号可以将若干探测单元合并。
CT检测
图像增强器是一种传统的面探测器,是一种真空器件。名义上的像素尺寸<100μm,直径152~457mm(6~18in)。读出速度可达15~30 帧/s,是读出速度快的面探测器。由于图像增强过程中的统计涨落产生的固有噪声,图像质量比较差,一般射线照相灵敏度仅为7~8%,在应用计算机进行数据叠加的情况下,射线照相灵敏度可以提高到2%以上。缺点就是易碎和有图像扭曲。面探测器的基本优点是不言而喻的—它有着比线探测器高得多的射线利用率。面探测器也比较适合用于三维直接成像。所有面探测器由于结构上的原因都有共同的缺点,即射线探测效率低、无法限制散射和窜扰、动态范围小等。高能范围应用效果较差。
CT检测常用扫描方式介绍
工业CT常用的扫描方式是平移—旋转(TR)方式和只旋转(RO)方式两种。只旋转扫描方式无疑具有更高的射线利用效率,可以得到更快的成像速度;然而,平移—旋转的扫描方式的伪像水平远低于只旋转扫描方式;可以根据样品大小方便地改变扫描参数(采样数据密度和扫描范围),特别是检测大尺寸样品时其优越性更加明显;源—探测器距离可以较小,提高信号幅度;以及探测器通道少可以降低系统造价便于维护等。
CT检测X射线管
X射线管的设计有两种形式:开放管和闭合管。开放管顾名思义是开放式的,“这种技术要求在射线管内建立一定的真空度,利用两级真空泵不间断地运行来维持真空。”在这个过程中,大量的热量从射线管被转移到工作舱内。在某型情况下,工作舱内的温度甚至可高达60~70℃。而在闭合管上,热量由于被封闭在管内,不容易转移到工作舱内。而进一步配以合适的冷却系统(根据功率高低采用空冷或液冷),这一问题会得到较好的解决。所以
当选择X射线管形式时,要注意几个方面的因素,其中一个便是射线管的热量传导。
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